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惠州電子產(chǎn)品高加速壽命試驗(yàn)檢測(cè)-認(rèn)準(zhǔn)安普,實(shí)力雄厚,設(shè)備齊全,找高加速壽命試驗(yàn),就選安普檢測(cè)!!
高加速壽命試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Testing,簡(jiǎn)稱HALT試驗(yàn))是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來(lái)揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可用性。
HALT以連續(xù)的測(cè)試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗(yàn)證構(gòu)成了整個(gè)程序,而且可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過(guò)程。試驗(yàn)的主要功能如下:
1.利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來(lái),并加以改善;
2. 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式;
3. 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考;
4. 快速找出產(chǎn)品制造過(guò)程的瑕疵;
5. 增加產(chǎn)品的可用性,減少維修成本;
6. 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù),為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計(jì)制造周期。
高加速壽命試驗(yàn)的具體測(cè)試內(nèi)容包括以下幾點(diǎn):
1. 逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障;
2. 采取臨時(shí)措施,修正產(chǎn)品的失效或故障;
3. 繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正;
4. 重復(fù)以上試驗(yàn)→失效→改進(jìn)的步驟;
5. 找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。
試驗(yàn)項(xiàng)目:
• 高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)
• 快速熱循環(huán)試驗(yàn)
• 振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)
• 綜合應(yīng)力試驗(yàn)
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