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可靠性測(cè)試測(cè)試項(xiàng)目
項(xiàng)目類別:
行業(yè)類別:
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分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陜西西安
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分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
陜西西安
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分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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間歇壽命IoL試驗(yàn)【長禾CNAS實(shí)驗(yàn)室】
分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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功率循環(huán)試驗(yàn)（PC）【長禾CNAS實(shí)驗(yàn)室】
分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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熱阻測(cè)試（Riath）【長禾CNAS實(shí)驗(yàn)室】
分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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二極管反向恢復(fù)測(cè)試服務(wù)【長禾CNAS實(shí)驗(yàn)室】
分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（DC） 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-750，IEC60747、JB/T7626-2013、GB/T29332-2012、GJB128B-2021試驗(yàn)對(duì)象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件...
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亞馬遜激光產(chǎn)品要求IEC60825報(bào)告FDA激光類注冊(cè)
亞馬遜激光產(chǎn)品FDA注冊(cè)，IEC60825測(cè)試報(bào)告定義：使用激光能量的產(chǎn)品有許多尺寸，形狀和形式；它們的共同點(diǎn)是激光器，其存儲(chǔ)來自光源的能量，例如放電，化學(xué)反應(yīng)或強(qiáng)光學(xué)照明，其以光的形式...
廣東深圳
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汽車線束老化測(cè)試 老化測(cè)試原理：造成材料老化的主要因素是陽光和潮濕，太陽光是造成很多材料降解的一個(gè)主要因素。降解的類型，如物理性能下降、粉化、開裂、起皮、褪色及顏色變化...
廣東
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機(jī)械沖擊測(cè)試，機(jī)械沖擊檢測(cè)深圳市一通檢測(cè)技術(shù)有限公司是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試、檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。易詩雄經(jīng)理手機(jī):13554947984QQ:3811457220755-...
廣東廣州市
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本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。TTS實(shí)驗(yàn)室提供多臺(tái)不同尺寸的常規(guī)恒溫恒濕箱與步入式恒溫恒濕箱，根據(jù)...
廣東
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本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等...
廣東
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本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán)...
廣東
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中國檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)CCIC和CQC東莞虎門信息傳輸線纜公共服務(wù)平臺(tái)中國檢驗(yàn)認(rèn)證集團(tuán)廣東電線電纜檢測(cè)中心電線電纜檢測(cè)中心按17025建立實(shí)驗(yàn)室管理體系，實(shí)驗(yàn)室將建設(shè)覆蓋IEC標(biāo)準(zhǔn)、國標(biāo)、...
廣東
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加速度描述的是速度隨時(shí)間的變化率。比如，水平地向前扔出一個(gè)物體，起初它的速度朝向正前，然而由于重力它開始在向前的同時(shí)向下墜落，即其速度改變了。這里改變物體速度的主要是地球的重力...
江蘇無錫
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動(dòng)態(tài)高溫正向偏壓測(cè)試HTFB/SIC器件動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試/AQG324認(rèn)證
碳化硅的長期運(yùn)行可靠性是目前業(yè)內(nèi)關(guān)注的核心問題之一。由于寬禁帶半導(dǎo)體器件本身的特性，如大量的界面陷阱導(dǎo)致的閾值電壓漂移問題，傳統(tǒng)的基于硅器件的失效模型已無法充分覆蓋碳化硅的情況；研...
廣東
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交變濕熱測(cè)試可以用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品戒材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。 應(yīng)用范圍交變濕熱測(cè)試用亍電子電器零組件自勱化...
廣東深圳
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太陽輻射試驗(yàn)（氙燈暴lu試驗(yàn)、碳弧燈暴lu試驗(yàn)、鹵素?zé)舯﹍u試驗(yàn)）加熱效應(yīng)主要是由太陽輻射能中紅外光譜部分產(chǎn)生的,主要引起產(chǎn)品短時(shí)高溫和局部過熱,造成一些對(duì)溫度敏感的元器件失效,結(jié)構(gòu)材料的...
廣東深圳
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HALT（Highlyacceleratedlifetest）高加速壽命試驗(yàn)是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的工序，它通過設(shè)置逐級(jí)遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來加速暴lu試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴lu的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和...
廣東深圳
