牛津儀器CMI900無損電鍍膜厚測量儀，專業(yè)測量金、銀鈀銠鎳銅錫等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速精準無損，業(yè)內(nèi)廣受好評，客戶應

　　用廣泛在五金連接器PCB等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系測量量樣品洽談往來本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗豐

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　　儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的全面自動化控制，PCB五金LED連接器表面處理等行業(yè)技術參數(shù)：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業(yè)A CMI 900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15種元素。B：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)C：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀