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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

平面光學(xué)元件光譜分析儀（型號：PR-YB01）

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  • 品　　牌：
  • 主要規(guī)格：
  • 用　　途：
    • 平面光學(xué)元件光譜分析儀（型號：PR-YB01） 
       
      測試類型：
       
      1.光學(xué)元件的反射
       
      2.透射光譜測量多角度絕對
       
      3.相對反射率測量，透射率測量
       
      4.反射/透射比及膜性測量 
       
       
      適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能
       
       
      波長范圍：380~1000nm/600~1200nm）
       
      角度位移范圍：2.5~357.5°
       
      最小角位移：0.01°
       
      波長分辯率：0.03nm~10nm（由所選波長范圍確定）
       
      測量最大相對誤差：<1.0%
       
      動(dòng)態(tài)范圍：2×108，1300：1（單次測量）
       
      校正線性度：99.8%
       
      單次測量時(shí)間：100ms（最?。?/span>
       
      功耗：200W電源： 210~245V - 45~60Hz
       
      信號接口：USB 2.0（USB 1.1 兼容）
       
      操作系統(tǒng)：Windows

       

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