檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- *平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列,每個(gè)系列各分六組,每組四塊。平行平晶技術(shù)要求及價(jià)格組別兩工作面的平行度工作面的平面度2/3d范圍內(nèi)的平面度 價(jià)格I(0-25)0.60.10.05750II(25-50)0.60.10.051000III(50-75)0.80.10.051375IV(75-100)1.00.10.051750
天光光學(xué)儀器有限公司
李紫瑞
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