檢測認證人脈交流通訊錄
- 高分辨原位力學(xué)控制系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭,在透射電子顯微鏡內(nèi)可直接觀察納米機械測試。通過該系 統(tǒng),不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像,而且同時可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。另外,用戶可選擇 push-to-pull模塊可實現(xiàn)樣品拉伸實驗,或者選擇加熱模塊可實現(xiàn)熱場和力場耦合實驗,加熱模塊可選搭 載push-to-pull模塊的程序升溫方式(rt-1000℃,±1k)或者電阻加熱方式(rt-1300℃,±1k),或者 選擇加電模塊(***大電壓±50v,電流范圍:±10pa~±250ma)
獨特優(yōu)勢 :
1.支持多種力學(xué)測試
a.壓縮、拉伸、彎曲、壓痕、劃痕等測試
b.***大拉伸位移達20μm
2.力學(xué)測量
a.載荷范圍:1μn~100mn
3.穩(wěn)定性好
a.科學(xué)設(shè)計,漂移率***小
b.傳感器熱漂移低于0.5nm/
4.模塊化設(shè)計
a.可擴展加電或加熱模塊
高分辨原位力學(xué)控制系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):
溫度范圍
rt
分辨率
電鏡分辨率
行程
xy方向10mm,z方向20mm
載荷量程
>100mn
***小載荷
<0.5μn*
縱向載荷分辨率
≤100nn*
***大拉伸位移
20μm
位移分辨率
≤0.1nm*
位置分辨率
1nm*
傳感器熱漂移
≤0.5nm/s
擴展
可增配加電、加熱模塊
(hr)tem/stem
√
(hr)eds/eels
√
傾轉(zhuǎn)角
α=±30°
適用電鏡
fei,jeol,hitachi
適用極靴
all
*測試的載荷背景噪音10hz
應(yīng)用領(lǐng)域 :
1.材料力學(xué)研究 :力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究、 位錯研究 、應(yīng)力下的2.晶相轉(zhuǎn)變研究 、納米線、納米球的力學(xué)測試,剪切帶或斷裂發(fā)生 材料力學(xué)測試 :壓痕測試、 拉伸測試(配拉伸臺)、 彎曲測試 、納米壓痕測試 、納米劃痕測試
更多訪問:
http://www.chip-nova.com.cn/sonlist-2050785.html
https://www.chem17.com/st384871/erlist_2050785.html