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高分辨率波前分析儀 昊量供 高分辨率波前分析儀價(jià)格
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高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器
400X300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價(jià)比、同時(shí)檢測波前與M^2波前傳感器!
關(guān)鍵詞:波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF
法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨(dú)特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。
法國PHASICS波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術(shù)研發(fā)實(shí)力,能為客戶提供的各種自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定個(gè)性化解決方案??筛鶕?jù)客戶的應(yīng)用需求,為客戶推薦合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調(diào)制器、自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)操作軟件等。
圖1 波前校正前與校正后對比
PHASICS波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉專利技術(shù),對哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級、改進(jìn)。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結(jié)合在了一起??梢詽M足不同的客戶的應(yīng)用需求,可對激光光束進(jìn)行光強(qiáng)、位相、PSF(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、OTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、波前像差、M^2等進(jìn)行實(shí)時(shí)、簡便、快速的測量。
第一部 產(chǎn)品介紹
SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器
PHASICS公司將 SID4的波前測量波長范圍擴(kuò)展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學(xué)元件測量(例如印刷、半導(dǎo)體等等)和表面檢測(半導(dǎo)體晶片檢測等)。
特點(diǎn):
u 高分辨率(250x250)
u 通光孔徑大(8.0mmx8.0mm)
u 覆蓋紫外光譜
u 靈敏度高(0.5um)
u 優(yōu)化信噪比
圖2 SID4-UV波前分析儀
SID4 波前傳感器
可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強(qiáng)度分布,波前像差,激光的M2,澤尼克參數(shù)等進(jìn)行實(shí)時(shí)的測量及參數(shù)輸出。
特點(diǎn):
? 波長范圍:400-1100nm
? 分辨率高(160x120)
? 消色差
? 測量穩(wěn)定性高
? 對震動不敏感
? 操作簡單
? 結(jié)構(gòu)緊湊,體積小
? 可用筆記本電腦控制
圖3 SID4位相檢測
具體圖片請參見官網(wǎng)
SID4-HR 波前相差儀
可用于檢測各種透鏡,光學(xué)系統(tǒng)的檢測,可以對透鏡、光學(xué)系統(tǒng)的進(jìn)行實(shí)時(shí)的PSF(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù))、MTF(調(diào)制傳遞函數(shù))、OTF(光學(xué)傳遞函數(shù))、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備像:傳函儀、干涉儀,具有操作簡便,測量精度高,參數(shù)輸出方便等優(yōu)點(diǎn),正在被越來越多的客戶推崇。
特點(diǎn):
u 波長范圍:400-1100nm
u 高性能的相機(jī),信噪比高
u 實(shí)時(shí)測量,立即給出整個(gè)物體表面的信息(120000個(gè)測量點(diǎn))
u 曝光時(shí)間極短,保證動態(tài)物體測量
u 操作簡單
圖4 SID4-HR
具體圖片請參見官網(wǎng)
圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測
SID4 NIR 波前分析儀
主要針對1550 nm(1.5um-1.6um)激光的檢測,具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨(dú)特的優(yōu)勢??捎糜诠鈱W(xué)測量,SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質(zhì)量的理想工具。
特點(diǎn):
2 高分辨率(160x120)
2 快速測量
2 性價(jià)比高
2 **測量
2 對振動不敏感
圖6 SID4 NIR激光波前檢測
SID4 DWIR 波前儀
具有寬波段測量的特點(diǎn)??梢詫?shí)時(shí)的檢測3-5um和8-14um的波前位相,強(qiáng)度分布等響應(yīng)的波前信息??梢院芎玫臐M足紅外波段客戶的波前檢測需求。
特點(diǎn):
u 光學(xué)測量:SID4 DWIR是測量紅外物體特性(熱成像和**視覺)或紅外透鏡(CO2激光器)的理想工具,輸出結(jié)果包括MTF,PSF,像差,表面質(zhì)量和透鏡焦距。
u 光束測量:(CO2激光器,紅外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù):像差,M2,光強(qiáng)分布,光束特性等
u 高分辨率(96x72)
u 可實(shí)現(xiàn)**測量
u 可覆蓋中紅外和遠(yuǎn)紅外波段 大數(shù)值孔徑測量,無需額外中轉(zhuǎn)透鏡
u 快速測量 對振動不敏感
u 可實(shí)現(xiàn)離軸測量
u 性價(jià)比高
SID4產(chǎn)品型號參數(shù)匯總
型號
第二部 控制軟件
第三部 與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較
具體詳情請參見官網(wǎng)
與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結(jié)果對比:
具體詳情請參見官網(wǎng)
技術(shù)參數(shù)對比:
第四部 應(yīng)用領(lǐng)域
? 激光、天文、顯微、眼科等復(fù)雜自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)波前像差檢測
? 激光光束性能、波前像差、M^2、強(qiáng)度等的檢測
? 紅外、近紅外探測
? 平行光管/望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào)
? 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域
? 球面、非球面光學(xué)元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)
? 虹膜定位像差引導(dǎo)
? 大口徑高精度光學(xué)元器件檢測
? 激光通信領(lǐng)域
? 航空航天領(lǐng)域
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