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賽貝克效應測量系統(tǒng) 高精度賽貝克系數(shù)測量系統(tǒng) Seeback賽貝克系數(shù)測量儀 昊量供
- 主要規(guī)格:
- 賽貝克效應測量系統(tǒng)
- Seeback賽貝克效應測量系統(tǒng)
高精度賽貝克系數(shù)測量系統(tǒng)!
賽貝克(Seeback)效應測量系統(tǒng)是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數(shù)的儀器。該設備樣品臺附加在焦耳-湯姆遜制冷臺上可以提供70K-730K的變溫范圍。擁有卓越的溫度穩(wěn)定系和重現(xiàn)性,分辨率可達到0.01K。擁有極高的賽貝克系數(shù)測量精度及穩(wěn)定性,精度可達到50nV。易于測量兩樣品,測量樣品包含金屬或者是薄膜
賽貝克系數(shù)測量儀、賽貝克熱電效應測量系統(tǒng), Seeback Measurement Systems
賽貝克效應(Seeback)是指在兩種不同導體組成的閉合電路中,如果兩個接點的溫度不同,則兩接點間會有電動勢產生。賽貝克系數(shù)測量儀是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數(shù)的儀器。賽貝克(Seeback)系數(shù)測量儀主要包括賽貝克效應控制器、賽貝克樣品臺、溫度控制器三部分。
賽貝克(Seeback)平臺依附在制冷臺上可以提供70K-730K和室溫-730K的變溫范圍,結合溫度控制器AUK2000可提供精確的溫度控制與測量并且擁有極高的穩(wěn)定性和重復性。該系統(tǒng)控溫精度可達到±0.1K,分辨率可達到±0.01K,對溫度的響應速度可達到1K/s。
賽貝克系數(shù)測量儀的工作原理大致如下,在賽貝克樣品臺上包含兩組熱電偶,一組是銅和已知熱電屬性的參考材料構成,一組是銅與待測樣品組成(如下圖所示)。其中一個接點為參考點,另一個接點為工作點。當參考點與工作接點有溫差時就可以分別探測到兩端電壓V1和V2。即
(1). V1=e1DT(P); (2). V2=e2DT(P); 所以(3).e1=e2 V1/ V2 。由于這種直接測量不會有很高的精度,因為儀器工作時會有儀器誤差、電線和連接點帶來的熱電效應和測量誤差。為了**這些誤差分別在兩個不同輸入功率下進行測量即:(4).V1(P1)= e1DT(P1)+ D V1 ; (5).V2(P1)=e2DT(P1)+ D V2 ; D V1 D V2 位系統(tǒng)誤差電壓(與溫度無關)。(6). V1(P2)= e1DT(P2)+ D V1 ;(7). V2(P2)= e2DT(P2)+ D V2 。**系統(tǒng)誤差即可得到e1=e2[V1(P1)- V1(P2)]/[ V2(P1)- V2(P2)],系統(tǒng)誤差得到**。
賽貝克效應的測量通過賽貝克控制器AUK1000來實現(xiàn)的。其結構緊湊小巧,可通過R232或者USB接口與電腦連接,并通過軟件完成測試。賽貝克數(shù)字控制器可實時對電壓進行測量并提供高精度和高重現(xiàn)性的測量,精度可達到50nV。
u 主要特點
l 寬的操作溫度(70-730K)
l 卓越的溫度穩(wěn)定性和重復性(±0.1K)
l 高的測量精度(50nV)
l 實時測量與分析
l 可測量柱狀或帶狀樣品
u 主要應用
賽貝克系數(shù)測量儀是用來精確測量導電物質、金屬、有機導體和半導體的賽貝克系數(shù)。
u 主要參數(shù)Maximum Operating Temperature70K to 730KTemperature Stability±0.1KResolution for Measurements:50nV (1000G, 300G, 100G and 30G Amplifiers available)Power to Heat ample:Generates a temperature difference across sample, power available Min: 0.01W, Max: 1WData Output Options:Reports can be generated directly through the Software Suite. Exporting data to PNG, JPG, TXT and CSV options availableSample Length>2 mm and <10 mm
具體詳情請聯(lián)系昊量02151083793
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