深圳市美信檢測技術(shù)有限公司

檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

X射線光電子能譜(XPS),也稱為電子光譜化學(xué)分析儀(ESCA) ，用來測量定量原子組成和化學(xué)成分。它是取樣范圍從表面到深度大約 50-70?的分析技術(shù)。或者, XPS也可用通過量化材料本體級(jí)分子進(jìn)行特征化薄膜濺射深度剖面。 XPS是一種元素分析技術(shù),提供獨(dú)特的被檢測元素的化學(xué)狀態(tài)信息，如，測量硫元素中硫酸鹽和硫化物的形式。這個(gè)過程是用單色X射線照射樣品而產(chǎn)生散射光電子, 這些光電子釋放的能量是取樣范圍內(nèi)元素的特征。利用這項(xiàng)技術(shù)在不同領(lǐng)域的多種應(yīng)用中幫助客戶研發(fā)以及發(fā)展工藝: ? 測量表面成分及化學(xué)狀態(tài)信息 ? 描述清潔過程 ? 分析粉末和碎片的主成分 ? 有機(jī)材料、無機(jī)材料、污點(diǎn)、殘留物的表面分析，識(shí)別污染源 ? 識(shí)別和量化表面變化前后聚合物的功能性檢測 ? 測量硬盤上的潤滑劑厚度 ? 為材料本體水平元素獲取薄膜(導(dǎo)電的和非導(dǎo)電的)深度剖面 ? 薄膜氧化物厚度測量（SiO2, Al2O3 等.）或估算兩個(gè)樣品氧化層厚度的不同 ? 檢測極限通常在~ 0.01 %，最小的分析面積是~10 μm 歡迎來電咨詢。咨詢電話：189 2932 2016；聯(lián)系QQ：254755933;

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曾菲

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