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電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設(shè)計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。 種類有涂/鍍層失效分析、電子元器件失效分析、PCB/PCBA失效分析、復(fù)合材料失效分析、高分子材料失效分析、金屬材料及零部件失效分析這六種。

開展失效分析的意義

失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義,失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段,發(fā)生在產(chǎn)品研制階段、生產(chǎn)階段到使用階段的各個環(huán)節(jié),通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的失效產(chǎn)品明確失效模式、分析失效機理,最終明確失效原因。

失效分析流程

(1)失效背景調(diào)查:產(chǎn)品失效現(xiàn)象,失效環(huán)境,失效階段(設(shè)計調(diào)試、中試、早期失效、中期失效等等),失效比例,失效歷史數(shù)據(jù)。

(2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查、局部成分分析等。

(3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測試、聚焦離子束分析、熱性能測試、體成分測試、機械性能測試等。

(4)使用條件分析:結(jié)構(gòu)分析、力學(xué)分析、熱學(xué)分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。

(5)模擬驗證實驗:根據(jù)分析所得失效機理設(shè)計模擬實驗,對失效機理進行驗證。

注:失效發(fā)生時的現(xiàn)場和樣品務(wù)必進行細致保護,避免力、熱、電等方面因素的二次傷害。[查看詳情]

涂/鍍層失效分析

主要失效模式(但不限于)

分層、開裂、腐蝕、起泡、涂/鍍層脫落、變色失效等

常用失效分析技術(shù)手段

材料成分分析方面:

傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)

材料斷口分析方面:

體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)

材料熱分析方面:

差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)

材料物理性能測試

拉伸強度、彎曲強度等 [查看詳情]

電子元器件失效分析

主要失效模式(但不限于)

開路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等

常用失效分析技術(shù)手段

電測:

連接性測試、電參數(shù)測試、功能測試

制樣技術(shù):

開封技術(shù)(機械開封、化學(xué)開封、激光開封)、去鈍化層技術(shù)(化學(xué)腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)、微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP)

失效定位技術(shù):

顯微紅外熱像技術(shù)(熱點和溫度繪圖)、液晶熱點檢測技術(shù)、光發(fā)射顯微分析技術(shù)(EMMI)

表面元素分析:

掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質(zhì)譜分析(SIMS)

顯微形貌像技術(shù):

光學(xué)顯微分析技術(shù)、(NMR)、掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù)

無損分析技術(shù):

X射線透視技術(shù)、三維透視技術(shù)、反射式掃描聲學(xué)顯微技術(shù)(C-SAM)[查看詳情]

PCB/PCBA失效分析

主要針對失效模式(但不限于)

爆板/分層/起泡/表面污染、開路/短路、焊接不良:焊盤上錫不良/引腳上錫不良、腐蝕遷移:電化學(xué)遷移、CAF

常用失效分析技術(shù)手段

無損檢測:

外觀檢查、X射線透視檢測、三維CT檢測、C-SAM檢測、紅外熱成像

熱分析:

差示掃描量熱法(DSC)、熱機械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)、導(dǎo)熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法)

電性能測試:

擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移法)

表面元素分析:

掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、顯微紅外分析(FTIR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)

破壞性檢測:

染色及滲透檢測切片分析:金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣[查看詳情]

復(fù)合材料失效分析

主要針對失效模式(但不限于)

開裂、腐蝕、爆板分層、開路(線路、孔)、變色失效等。

常用失效分析技術(shù)手段

無損檢測:

X-Ray透視檢查、三維CT檢查、C-SAM檢查

材料成分分析方面:

傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS) 、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、 核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS) 、X射線衍射儀(XRD) 、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)

材料熱分析方面:

差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)

材料電性能方面:

擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移等。

材料物理性能測試:

拉伸強度、彎曲強度等

破壞性試驗方面:

染色及滲透檢測、切片分析:金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣。 [查看詳情]

高分子材料失效分析

主要失效模式(但不限于)

斷裂、開裂、腐蝕、分層、起泡、涂層脫落、變色、磨損失效等。

常用失效分析技術(shù)手段

材料成分分析方面:

傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)

材料裂解分析方面:

凝膠滲透色譜分析(GPC)、熔融指數(shù)測試(MFR)

材料斷口分析方面:

體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)

材料熱分析方面:

差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA) 、動態(tài)熱機械分析(DMA)

材料物理性能測試:

拉伸強度、彎曲強度等 [查看詳情]

金屬材料及零部件失效分析

失效分析常用手段

斷口分析:

光學(xué)形貌分析、顯微形貌分析

成分分析:

40Cr鋼:回火S+部分T+條狀及網(wǎng)狀F,根據(jù)GB/T 13320評級為5.5級。并且受帶狀組織的影響,組織具有不均勻性。

鋅鋁合金過時效:析出相增多,形狀改變,顆粒聚集,并變得粗大。

成分分析:

SEM/EDS、ICP-OES、XRF、火花直讀光譜

物相分析-XRD 殘余應(yīng)力分析 現(xiàn)場工藝及使用環(huán)境的考察驗證 機械性能分析(硬度、拉伸性能、沖擊性能、彎曲性能、硬度等)

失效常見類型

  • 設(shè)計不當(dāng)引起的失效(結(jié)構(gòu)設(shè)計不合理、設(shè)計硬度不足、選材不當(dāng)、材料狀態(tài)要求不合理);
  • 材料缺陷引發(fā)的失效(疏松、偏析、皮下氣泡、縮孔、非金屬夾雜、白點、異金屬夾雜、表面腐蝕等);
  • 鑄造缺陷引發(fā)的失效(縮孔與疏松、白口與反白口、球墨鑄鐵球化不良、夾渣、偏析碳化物、鑄造裂紋、石墨漂浮等);
  • 鍛造缺陷引發(fā)的失效(過熱與過燒、鍛造裂紋、熱脆與銅脆、鍛造折疊、高溫氧化、退火不充分、鍛造白點、鍛造流線缺陷等);
  • 焊接缺陷引發(fā)的失效(焊接裂紋、未焊透與未熔合、焊接預(yù)熱不當(dāng)、夾渣與氣孔、晶間腐蝕、應(yīng)力腐蝕);
  • 熱處理缺陷引發(fā)的失效(淬火裂紋、表面脫碳、滲碳/氮缺陷、回火裂紋等);
  • 冷加工成型缺陷引發(fā)的失效(磨削缺陷、切削缺陷、冷鐓缺陷、沖/擠/拉伸成形缺陷等)。 [查看詳情]

美信檢測

美信檢測擁有一流的檢測、分析設(shè)備,經(jīng)驗豐富的技術(shù)團隊,能為客戶提供包括成分分析、微觀結(jié)構(gòu)、力學(xué)性能、電性能、熱性能、可靠性測試等全面的性能測試服務(wù)。

同時我們可以針對客戶產(chǎn)品的實際使用條件或可靠性要求,為客戶制定性能及可靠性評估方案,以真實的反映出產(chǎn)品的性能,為產(chǎn)品設(shè)計、改進及使用提供參考。針對客戶產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、測試及使用中出現(xiàn)的與材料、工藝、設(shè)計有關(guān)的失效問題,我司會基于多年的產(chǎn)品實踐經(jīng)驗、依托先進的檢測分析設(shè)備,快速的為客戶解決所遇到的技術(shù)難題,為企業(yè)贏得時間、市場、客戶的信任等多方面優(yōu)勢提供保證。 [查看詳情]

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