電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設(shè)計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。 種類有涂/鍍層失效分析、電子元器件失效分析、PCB/PCBA失效分析、復(fù)合材料失效分析、高分子材料失效分析、金屬材料及零部件失效分析這六種。
失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義,失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段,發(fā)生在產(chǎn)品研制階段、生產(chǎn)階段到使用階段的各個環(huán)節(jié),通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的失效產(chǎn)品明確失效模式、分析失效機理,最終明確失效原因。
(1)失效背景調(diào)查:產(chǎn)品失效現(xiàn)象,失效環(huán)境,失效階段(設(shè)計調(diào)試、中試、早期失效、中期失效等等),失效比例,失效歷史數(shù)據(jù)。
(2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查、局部成分分析等。
(3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測試、聚焦離子束分析、熱性能測試、體成分測試、機械性能測試等。
(4)使用條件分析:結(jié)構(gòu)分析、力學(xué)分析、熱學(xué)分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。
(5)模擬驗證實驗:根據(jù)分析所得失效機理設(shè)計模擬實驗,對失效機理進行驗證。
注:失效發(fā)生時的現(xiàn)場和樣品務(wù)必進行細致保護,避免力、熱、電等方面因素的二次傷害。[查看詳情]
分層、開裂、腐蝕、起泡、涂/鍍層脫落、變色失效等
傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)
差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)
拉伸強度、彎曲強度等 [查看詳情]
開路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等
連接性測試、電參數(shù)測試、功能測試
開封技術(shù)(機械開封、化學(xué)開封、激光開封)、去鈍化層技術(shù)(化學(xué)腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)、微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP)
顯微紅外熱像技術(shù)(熱點和溫度繪圖)、液晶熱點檢測技術(shù)、光發(fā)射顯微分析技術(shù)(EMMI)
掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質(zhì)譜分析(SIMS)
光學(xué)顯微分析技術(shù)、(NMR)、掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù)
X射線透視技術(shù)、三維透視技術(shù)、反射式掃描聲學(xué)顯微技術(shù)(C-SAM)[查看詳情]
爆板/分層/起泡/表面污染、開路/短路、焊接不良:焊盤上錫不良/引腳上錫不良、腐蝕遷移:電化學(xué)遷移、CAF
外觀檢查、X射線透視檢測、三維CT檢測、C-SAM檢測、紅外熱成像
差示掃描量熱法(DSC)、熱機械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)、導(dǎo)熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法)
擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移法)
掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、顯微紅外分析(FTIR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
染色及滲透檢測切片分析:金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣[查看詳情]
開裂、腐蝕、爆板分層、開路(線路、孔)、變色失效等。
X-Ray透視檢查、三維CT檢查、C-SAM檢查
傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS) 、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、 核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS) 、X射線衍射儀(XRD) 、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)
擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移等。
拉伸強度、彎曲強度等
染色及滲透檢測、切片分析:金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣。 [查看詳情]
斷裂、開裂、腐蝕、分層、起泡、涂層脫落、變色、磨損失效等。
傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
凝膠滲透色譜分析(GPC)、熔融指數(shù)測試(MFR)
體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)
差示掃描量熱法(DSC)、熱重分析(TGA)、熱機械分析(TMA) 、動態(tài)熱機械分析(DMA)
拉伸強度、彎曲強度等 [查看詳情]
光學(xué)形貌分析、顯微形貌分析
40Cr鋼:回火S+部分T+條狀及網(wǎng)狀F,根據(jù)GB/T 13320評級為5.5級。并且受帶狀組織的影響,組織具有不均勻性。
鋅鋁合金過時效:析出相增多,形狀改變,顆粒聚集,并變得粗大。
SEM/EDS、ICP-OES、XRF、火花直讀光譜
美信檢測擁有一流的檢測、分析設(shè)備,經(jīng)驗豐富的技術(shù)團隊,能為客戶提供包括成分分析、微觀結(jié)構(gòu)、力學(xué)性能、電性能、熱性能、可靠性測試等全面的性能測試服務(wù)。
同時我們可以針對客戶產(chǎn)品的實際使用條件或可靠性要求,為客戶制定性能及可靠性評估方案,以真實的反映出產(chǎn)品的性能,為產(chǎn)品設(shè)計、改進及使用提供參考。針對客戶產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、測試及使用中出現(xiàn)的與材料、工藝、設(shè)計有關(guān)的失效問題,我司會基于多年的產(chǎn)品實踐經(jīng)驗、依托先進的檢測分析設(shè)備,快速的為客戶解決所遇到的技術(shù)難題,為企業(yè)贏得時間、市場、客戶的信任等多方面優(yōu)勢提供保證。 [查看詳情]
?
關(guān)于檢測通 | 服務(wù)項目 | 合作中心 | 資訊投稿 | 聯(lián)系我們 | 客服中心 | 網(wǎng)站地圖 | 友情鏈接
Copyright ? 2010-2013 生意寶檢測通 版權(quán)所有. All rights reserved.
地址:浙江省杭州市莫干山路187號易盛大廈12F 郵政編碼:310012
電話:0571-87397933 傳真:0571-88228213 QQ:2804879579