在介紹本公司的大功率浪涌測(cè)試系統(tǒng)之前，我們先了解幾個(gè)概念：  

　　什么是浪涌？如何解決浪涌的影響？   

　　1、浪涌(Electrical surge)， 也叫突波，它包括浪涌電壓和浪涌電流。供電系統(tǒng)浪涌的來源分為外部(雷電原因)和內(nèi)部(電網(wǎng)上大型負(fù)荷接通或斷開 (包括補(bǔ)償電容的投切)) 。 

?浪涌電壓：是指瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值電壓。 電路在遭雷擊和在接通、斷開電感負(fù)載或大型負(fù)載時(shí)常常會(huì)產(chǎn)生很高的操作過電壓，這種瞬時(shí)過電壓，稱為浪涌電壓，是一種瞬變干擾。 

浪涌電壓的影響——現(xiàn)象日趨嚴(yán)重地危及自動(dòng)化設(shè)備安全工作，消除浪涌噪聲干擾、防止浪涌損害一直是關(guān)系到自動(dòng)化設(shè)備安全可靠運(yùn)行的核心問題?，F(xiàn)代電子 設(shè)備集成化程度在不斷提高，但是它們的抗御浪涌電壓能力卻在下降。在多數(shù)情況下，浪涌電壓會(huì)損壞電路及其部件，其損壞程度與元器件的耐壓強(qiáng)度密 切相關(guān)，并且與電路中可以轉(zhuǎn)換的能量相關(guān)。

 ?浪涌電流： 是指電源接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產(chǎn)生的遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過載電流。由于輸入濾波電容迅速充電，所以該峰值電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于穩(wěn)態(tài)輸入電流。電源應(yīng)該限制 AC 開關(guān)、整流橋、保險(xiǎn)絲、EMI 濾波器件能承受的浪涌水平。反復(fù)開關(guān)環(huán)路，AC 輸入電壓不應(yīng)損壞電源或者導(dǎo)致保險(xiǎn) 絲燒斷。

       浪涌電流也指由于電路異常情況引起的使結(jié)溫超過額定結(jié)溫的不重復(fù)性正向過載電流。            本質(zhì)上講，浪涌是發(fā)生在僅僅幾百萬分之一秒時(shí)間內(nèi)的一種劇烈脈沖。作為電氣設(shè)備在接通瞬間的一種電流特性。對(duì)供電網(wǎng)絡(luò)及用電設(shè)備的安全都很 重要。工程中通常需要對(duì)浪涌電流進(jìn)行抑制處理。而含有浪涌保護(hù)裝置的產(chǎn)品可以有效地吸收突發(fā)的巨大能量。       

        2、浪涌保護(hù)：就是利用非線性元器件對(duì)高頻浪涌的敏感設(shè)計(jì)的保護(hù)電路，簡單而常用的是并聯(lián)大小電容和串聯(lián)電感。以保護(hù)連接設(shè)備免于受損。?浪涌電流測(cè)試單元：天光測(cè)控大功率浪涌測(cè)試系統(tǒng)通過電容充放電原理產(chǎn)生 電流波形，根據(jù)不同測(cè)試條件， 設(shè)定好參數(shù)，再通過調(diào)節(jié)不同的電感值來改變不同的電流寬度來輸出測(cè)試要求的電流值，測(cè)試的電壓和電流波形同時(shí)被采集到示波器和相關(guān)的控制電路，反饋給PLC,由HMI顯示結(jié)果； 

?PLC控制單元： 全程 PLC 控制，PLC 主要對(duì)工作時(shí) 序、開關(guān)動(dòng)作等進(jìn)行控制，并對(duì)測(cè)試 數(shù)據(jù)進(jìn)行采集且與HMI(人機(jī)界面) 進(jìn)行通訊，由 HMI顯示測(cè)試結(jié)果。完成整個(gè)系統(tǒng)的自動(dòng)控制功能；PLC控制開關(guān)動(dòng)作，且對(duì)系統(tǒng)中主要開關(guān)的工作狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控，并與硬件互鎖，實(shí)現(xiàn)了可靠的安全控制功能； 

HMI控制單元：

 HMI對(duì)以下參數(shù)進(jìn)行設(shè)定：     

試驗(yàn)次數(shù) / 重復(fù)時(shí)間     漏 電 流   / 電容電壓        電容選擇 / 脈寬選擇         VD/VR選擇       

設(shè)定完畢后可在測(cè)試界面中選擇并調(diào)用參數(shù)       

如有更多了解需求，可在公司產(chǎn)品列表中查看，或來電垂詢，我們?yōu)槟龈敱M的介紹和解答。王生155*9666*8661                                                                                                                      

                                        天光測(cè)控2020.05.28/葉