該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí)，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ汀Ｔ搩x器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。