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德譜儀器有限公司

檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄

國(guó)內(nèi)便宜又好用的ROHS檢測(cè)儀器

  • 這真不是您需要的產(chǎn)品？
  • 品　　牌：
  • 德譜
  • 主要規(guī)格：
  • 720*560*450MM
  • 用　　途：
  • 環(huán)保檢測(cè)，鹵素檢測(cè)，鉛檢測(cè)儀
    • DX-520L X熒光光譜儀 主要性能優(yōu)勢(shì)： 集合了多年ROHS檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，對(duì)六種有害元素尤其是Br、Cl等鹵素進(jìn)行了優(yōu)化；模塊化的功能設(shè)計(jì)理念便于應(yīng)對(duì)指令進(jìn)行、檢測(cè)元素內(nèi)容的升級(jí)；更為精巧的工藝，實(shí)現(xiàn)小體積樣品的檢測(cè)；更智能、方便的測(cè)試分析軟件，操作人性化、功能強(qiáng)大化；全光路射線防護(hù)系統(tǒng)配合三重安全防護(hù)設(shè)計(jì)，同時(shí)采用軟硬件雙重安全連鎖，確保輻射安全性能。 X熒光光譜儀 產(chǎn)品特點(diǎn)： 操作界面簡(jiǎn)單，測(cè)量方便，快捷 無(wú)損檢測(cè)，在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析 采用125±5eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度。 進(jìn)口高端DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片 能夠檢測(cè)鹵族元素的精確含量 電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降 軟件獨(dú)立控制 同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測(cè)量的部位 電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的延長(zhǎng)X光管的壽命 外觀高貴大方，加大儀器內(nèi)部空間，儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾 采用獨(dú)特雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。 自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成 國(guó)際領(lǐng)先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等 客戶可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法 設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開(kāi)關(guān)，以確保用戶安全使用。 X熒光光譜儀 應(yīng)用范圍： 針對(duì)企業(yè)應(yīng)對(duì)歐盟、北美RoHS環(huán)保指令精心設(shè)計(jì)。不但可以測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、銻、硒、砷等重金屬，還能測(cè)試無(wú)鹵素指令的溴、氯等有害元素及金屬鍍層。對(duì)鎂.鋁.硅.磷.硫等輕元素探測(cè)靈敏度高,已在有色金屬、連接器、端子、印刷、玩具、服飾、醫(yī)療設(shè)備、地礦、電子、電器、五金、PCB、半導(dǎo)體、通信、電鍍、首飾、手表、汽車(chē)、鋼鐵、鞋材、皮革等行業(yè)得到廣泛應(yīng)用。 X熒光光譜儀 技術(shù)指標(biāo) 型號(hào)： DX-520L SDD硅漂移探測(cè)器(進(jìn)口) AMPTEK 探頭尺寸 25mm2 測(cè)試對(duì)像： 粉未、固體、液體 元素分析范圍： 鈉（Na）－鈾（U） 同時(shí)最多可測(cè)元素： 36種 含量分析范圍： 1ppm～99.99% 工作穩(wěn)定性： 總熒光強(qiáng)度為0.1％ 測(cè)試時(shí)間： 60～200秒 探測(cè)器分辨率： 125eV±5 進(jìn)口高端DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片 64位處理 電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降 軟件獨(dú)立控制 多道分析器： 2048道 X射線光管： 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo 高壓電源： 電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時(shí)小于0.05% 外型尺寸： 720mm×520mm×360mm(不包括支腳) 測(cè)量倉(cāng)： 590mm×400mm×120mm 重量： 70Kg 最低檢出限： Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm 金屬成分分析 可分析各種金屬成分分析,對(duì)鎂鋁等輕金屬探測(cè)更為靈敏 可對(duì)礦石進(jìn)行成分分析和含量分析 鍍層技術(shù)參數(shù)： 可測(cè)鍍層數(shù)： 最多可達(dá)5層 鍍層種類： 單金屬鍍層、合金鍍層 鍍層識(shí)別精度： 最薄可測(cè)試0.005μm。 厚度測(cè)試范圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um X熒光光譜儀 標(biāo)準(zhǔn)配置 配置 數(shù)量 單位 儀器主機(jī)部分主要配置 1. SDD硅漂移探測(cè)器(進(jìn)口) AMPTEK 1 套 2.低功率X光管 1 個(gè) 3. 高壓電源 1 個(gè) 4. 2048道數(shù)字多道分析器 1 套 5. 進(jìn)口高端DSP數(shù)字信號(hào)處理芯片 1 片 6. 高精密CCD 1 個(gè) 7. 濾光片組 5 組 8. 準(zhǔn)直器：直徑為0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的準(zhǔn)直器 6 個(gè) 9.電控全自動(dòng)機(jī)蓋升降 1 套 儀器外圍配置 計(jì)算機(jī)：聯(lián)想電腦一套 1 套 2. 彩色噴墨打印機(jī) 1 臺(tái) 3. 銀校正片 1 片 4. 塑料標(biāo)準(zhǔn)樣品: EC681K 1 袋 5. 樣品杯、麥拉膜 若干 軟件配置 RoHS/無(wú)鹵檢測(cè)專用軟件 1 套 元素分析專用軟件 1 套 鍍層測(cè)試專用軟件(選購(gòu)) 1 套
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