檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
鍍層測厚儀X-Strata920系列,牛津鍍層膜厚儀,X射線熒光膜厚儀
- 這真不是您需要的產(chǎn)品?
- 品 牌:
- 英國牛津
- 鍍層測厚儀 X-Strata920系列
鍍層測厚儀X-Strata920系列,屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀,廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析;是各類電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比,有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準(zhǔn)、測量時間短等特點(diǎn);具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性,能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,節(jié)約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點(diǎn):
l 測量精度高、穩(wěn)定性好,測量結(jié)果精確至μin
l 快速無損測量,測量時間短,10秒內(nèi)得出測量結(jié)果
l 可定性、半定量和定量分析
l 進(jìn)行貴金屬檢測,如Au karat評價
l 材料鑒別和分類檢測,材料和合金元素分析,元素光譜定性分析
l 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
l 結(jié)果輸出:直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件;報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等
l 測量位置預(yù)覽功能;高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍
l 激光對焦和自動對焦功能;單擊鼠標(biāo),Z軸自動掃描,鐳射聚焦
儀器參數(shù)
型號
P920-S
P920-MWS
P920-MWM
P920-AM
名稱
半自動
自動臺
固定臺
單準(zhǔn)直器加深臺
多準(zhǔn)直器加深臺
樣品圖片
測量元素范圍
Ti22---U92
鍍層和成分分析
l 鍍層:最多同時測定5層(4層鍍層+基體材料)鍍層
l 成分:最多同時測量25種元素
測量方法
l SmartLinkaFP(基本參數(shù)法)
l 儀器預(yù)裝超過800種應(yīng)用參數(shù)/方法
l 簡單直觀步驟建立應(yīng)用
X射線激發(fā)
l 50kV、1.0mA(50W)
l 空冷式微聚焦W靶X射線管,Be窗
l 垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
l 安全防射線光閘
l 二次濾波組件,可選三個程控交換的濾波器,有效于X射線重疊譜的修正
成像系統(tǒng)
l 彩色視頻系統(tǒng)
l 光學(xué)放大:30倍,可選項(xiàng)50倍
l 數(shù)字放大200%
l 激光自動對焦
l 被測樣品圖像實(shí)時顯示功能
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
l Intel Core i3-3240 3.40GHz,內(nèi)存2G,硬盤500G,DVD光驅(qū)
l 17吋液晶彩色顯示器
l MicrosoftTM Win7 32bit
樣品臺規(guī)格
l 測量樣品高度≤33mm
l 測量樣品高度≤160mm
l 樣品倉內(nèi)部尺寸(寬×深×高):279×508×152mm
l 樣品倉抽屜式設(shè)計(jì),4個位置上下可調(diào),每格高度25.4mm
l 自定義樣品臺:可依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺,滿足樣品高度>160mm的測量
l 測量樣品高度≤33mm
l X-Y軸行程:寬×深178×178mm
l 樣品臺尺寸:寬×深610×560mm
l 自動送樣,無人自動測量
l 對樣品編程控制,自動多點(diǎn)測試和重復(fù)測試
l 鼠標(biāo)控制樣品臺精確定位樣品
儀器外形
寬×深×高
407×770×305mm
407×770×400mm
610×1037×375mm
Z軸
使用鼠標(biāo)控制,程控移動距離43mm
準(zhǔn)直器規(guī)格
l 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器
l 多準(zhǔn)直器程控交換
l 可選園形、矩形準(zhǔn)直器
l 園形準(zhǔn)直器:?0.1、?0.15、?0.2、?0.3、?0.33、?0.5mm
l 矩形準(zhǔn)直器:0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm
l 單準(zhǔn)直器標(biāo)配:?0.3mm
l 雙準(zhǔn)直器標(biāo)配:?0.1、?0.3mm
l 四準(zhǔn)直器標(biāo)配:?0.15、?0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm
探測器
正比例計(jì)數(shù)器
工作原理
對被測樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析
安全性
l 自動鎖定功能,防止未授權(quán)的操作
l 簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的授權(quán)
l 主管人員可進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)
l 系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄
l Z軸保護(hù)傳感器
l 安全防射線光閘
l 樣品室門開閉傳感器
l X射線鎖
l X射線警示燈
l 緊急停止按鈕
l 前面板安全鈕和后面板安全鎖
結(jié)果輸出
l 直接打印
l 一鍵導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件(選配);
l 自定義報告模板,報告包可含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等;
l 統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、圖、表含有平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖,數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖等
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