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光學(xué)薄膜與材料研究室

檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

提供傅里葉變換紅外光譜儀測量

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    • 傅里葉變換紅外光譜儀 儀器英文名稱：Fourier transform infrared spectroscopy 主要技術(shù)指標(biāo)： 光譜測量范圍：7800 ~ 230 cm-1(1.5 ~ 50µm)； 光譜儀分辨率: 優(yōu)于0.16 cm-1; 微區(qū)測量: 定位精度0.1µm，可測6.6 µm大小樣品透射譜； 全自動樣品臺：自動調(diào)整光闌，自動聚焦，可微區(qū)全自動測量； 輻射測量: 可測常溫紅外到400度變溫發(fā)射率； 低溫測量溫度: 10K到室溫，±0.2K可控。 主要附件： 光譜儀主機、低溫測量、紅外顯微鏡、絕對反射率測量 功能/應(yīng)用范圍： 光學(xué)薄膜材料、半導(dǎo)體材料、體材料 技術(shù)特色： 該光譜儀器具有寬光譜范圍，紅外測量區(qū)域可達(dá)50微米，具有絕對反射和透射測量附件，能夠進(jìn)行微區(qū)測量，可以在低溫條件下進(jìn)行樣品的反射率和透射率測量。 收費：來電詢
    光學(xué)薄膜與材料研究室

    周明

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