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IC器件測試插座

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  • 品　　牌：
  • 主要規(guī)格：
  • 用　　途：
    • IC器件測試插座 　　IC器件測試插座、高頻測試插座 　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距) 　　適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座 　　1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值 　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間 　　短-溫度范圍(典型值) 　　-40至+150℃(典型值) 　　[可接受的器件] 　　FTGB196(賽靈思) 　　256針FBGA(英特爾) 　　FT256/FTG256(賽靈思) 　　FG256/FGG256(賽靈思) 　　FG320/FGG320(賽靈思) 　　[可接受的器件] 　　FTGB196(賽靈思) 　　256針FBGA(英特爾) 　　FT256/FTG256(賽靈思) 　　FG256/FGG256(賽靈思) 　　FG320/FGG320(賽靈思) 　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距) 　　適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座 　　1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值 　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間 　　短-溫度范圍(典型值) 　　-40至+150℃(典型值) 　　https://www.chem17.com/st433170/erlist_2495307.html 　　http://www.leaderx.com.cn/Products-38193042.html

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