山東澤霖節(jié)水灌溉器材有限公司

顯微分光膜厚儀

OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕.對反射率進(jìn)行測量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。測量時間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。頭部集成了薄膜厚度測量所需功能通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點(diǎn)1秒高速測量顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）區(qū)域傳感器的安全機(jī)制易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析獨(dú)立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求支持各種自定義測量項(xiàng)目：絕.對反射率測量多層膜解析光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）顯微分光膜厚儀https://www.chem17.com/st469006/product_35599161.html http://www.boming021.com/Products-37821551.html

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