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揚州市天發(fā)試驗機械有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

臺式掃描電子顯微鏡

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    • 詳細介紹 全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應用的理想選擇。Phenom XL G2 臺式掃描電鏡大樣品室版升級為全面屏成像,平均成像時間僅為 40 秒,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對 100 x 100mm 的樣品進行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細節(jié)。 xl.jpeg Phenom XL G2 標配四分割背散射電子探頭(BSD),提供高品質圖像及成分襯度信息。Phenom XL G2 可選配另外兩 種探測器。一種是完全集成的能譜儀(即 EDS),可進行元素分析。另外一種是二次電子探測器(SED),可觀察樣品表面微觀細節(jié)。此外,還可以選配 ProSuite 應用拓展平臺。配備 ProSuite 軟件后,可以使用顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)、孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)、纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)、3D 粗糙度重建系統(tǒng)等軟件進一步分析樣品。 臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2 參數(shù) 光學顯微鏡:放大 3-19 倍 電子顯微鏡:200,000 倍 探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器 燈絲材料:1,500 小時 CeB6 燈絲 分辨率:優(yōu)于 8 nm 放置環(huán)境:采用專業(yè)防震設計,可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房 產品來源: http://www.desktopsem.com/Products-36525871.html https://www.chem17.com/st232783/product_36525871.html

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