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鏡片反射率測(cè)定儀

USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀的特點(diǎn)：消除背面反射光采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。詳細(xì)介紹 USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀的特點(diǎn)： 1、消除背面反射光采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。 2、可測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率用對(duì)物鏡對(duì)焦于小區(qū)域（φ60μm），可測(cè)定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。 3、測(cè)定時(shí)間短使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測(cè)定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。 4、XY色度圖、L*a*b測(cè)定可能以分光測(cè)定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測(cè)定物體顏色。 5、可測(cè)定的Hard Coat（高強(qiáng)度鍍膜）膜厚用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測(cè)定被測(cè)物的膜厚（單層膜）。 USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀主要用途： 1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等） 2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測(cè)定（單層膜）了解更多：https://www.chem17.com/st3598/erlist_1390102.html https://www.chem17.com/st3598/product_25682865.html

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