檢測認證人脈交流通訊錄
掃描電鏡試驗
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掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀
掃描電子顯微鏡
察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是,①有較高的放大倍數,20-20萬倍之間連續(xù)可調;②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構;③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。
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