檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 類型 錫膏測厚儀 品牌 TESHERCK
型號 SHD-110-2D 測量范圍 10(mm)
顯示方式 圖表形式 電源電壓 220(V)
外形尺寸 320*500*360(mm)
詳細說明:
功 能:
1.測量錫膏厚度:計算方形、不規(guī)則多邊形、圓形錫膏面積和體積。
2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角,零件腳共平面度
3.影像捕捉、處理;S.P.C分析、報表輸出
量測原理:
非接觸激光測度儀由專用激光器產(chǎn)生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標(biāo)上,由于待測與基板存在
高度差,此時觀測到的目標(biāo)和基板上的激光束相應(yīng)出現(xiàn)斷續(xù)落差,根據(jù)三角函數(shù)關(guān)系可以用觀測到的落差
計算出待測目標(biāo)與周圍基板存在高度差,從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。
軟件介紹:
1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數(shù)據(jù)記錄、背景光、激光亮度控制、面積(方形、不規(guī)則多邊形、圓
形)/體積/間距/(X軸、Y軸)/夾角測量,可記憶24條生產(chǎn)線任意數(shù)量產(chǎn)品。
2.根據(jù)指定的產(chǎn)品、生產(chǎn)線和日期范圍進行數(shù)據(jù)查詢、修改、刪除、導(dǎo)出(文本和Excel表格)、打印,能統(tǒng)計平均值、最大值、最小值、方差、標(biāo)準(zhǔn)差、不良數(shù)、不良率、偏度、峰度、Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk,并可繪制、預(yù)覽、打印X-BAR管制圖和R管制圖(其中的管制參數(shù)可自行設(shè)定)
技術(shù)參數(shù):測量原理:非接觸式、激光束 平臺:大理石平臺,機座不可以移動
測量精度 ±0.002mm 重復(fù)測量精度:±0.004mm
基座尺寸:320mm×500mm×360mm 系統(tǒng)尺寸: L320mm×W500mm×H360mm
光學(xué)放大倍率:25x~110x(5檔可調(diào)) 照明系統(tǒng):可調(diào)亮度環(huán)形LED光源(PC控制亮度)
測量光源:高精度紅色激光線 測量軟件:SH-110-2D/HSPC1000(Windows2000/XP平臺)
深圳市華欣茂電子有限公司
龔先生
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