江蘇天瑞儀器股份有限公司

韓國金鎳測厚儀，電鍍鍍層測厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,不單性能優(yōu)越,而且價(jià)錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺,鐳射自動(dòng)對焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度. 可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U) 可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦高壓：0-50KV(程控) 準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自動(dòng)種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).

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劉小姐