檢測認證人脈交流通訊錄
- 產(chǎn)品介紹
P-III的表面粒子檢測器系列通過以下技術實現(xiàn)電子半導體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測和控制:
核心技術原理
界面顆粒再懸浮技術?:采用先進界面技術,通過物理或氣流方式將附著在關鍵
表面的顆粒重新懸浮,便于后續(xù)檢測。
高精度光學檢測:基于激光光學傳感器和光散射原理,實時捕獲懸浮粒子的散
射光信號,實現(xiàn)單個粒子尺寸的精確分析。
關鍵性能指標
分辨率達0.1微米,支持納米級顆粒檢測;
配備靜態(tài)采樣模式,提升測量精度和穩(wěn)定性;符合ISO-14644-9表面粒子控制標準,
滿足半導體制造中對潔凈度的嚴苛要求
行業(yè)應用優(yōu)勢
減少50%以上的自凈時間及顆粒數(shù),縮短PM周期,提升制造效率;
通過實時監(jiān)測表面污染,降低因顆粒導致的良率損失和可靠性風險;
適用于晶圓、光學元件、精密電路板等對潔凈度敏感的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
系統(tǒng)集成設計
支持USB數(shù)據(jù)導出和軟件升級,便于與工廠智能管理系統(tǒng)對接;
采用雙電池熱插拔設計,適應連續(xù)生產(chǎn)環(huán)境的需求。
該系列設備通過量化表面污染數(shù)據(jù),為半導體制造中的過程控制提供標準化依據(jù),從而優(yōu)化生產(chǎn)良率和產(chǎn)品可靠性。
傳感器:第七代雙激光窄光檢測器,壽命>200000次
產(chǎn)品特點
智能化設計與操作體驗
7英寸高分辨率觸控屏:支持實時數(shù)據(jù)可視化與交互操作,簡化流程。
雙電池熱插拔系統(tǒng)?:支持連續(xù)生產(chǎn)場景下的不間斷作業(yè),電池更換無需停機。
USB數(shù)據(jù)接口與軟件升級?:便捷導出檢測報告,并可通過固件更新持續(xù)優(yōu)化性能。
提升制造效率
減少50%自凈時間?:通過量化表面污染數(shù)據(jù),縮短設備維護周期(PM周期),提升產(chǎn)線吞吐量。
延長MTBC(平均無故障周期):結合顆粒控制策略,關鍵設備可靠性提升4倍以上。
覆蓋高潔凈場景
半導體制造:晶圓表面、機臺內(nèi)腔等關鍵區(qū)域的潔凈度驗證。
精密光學與電子:液晶面板、光學鏡片組件、醫(yī)療器械的表面污染控制。
符合國際標準
產(chǎn)品嚴格遵循ISO-14644-9表面粒子控制規(guī)范,為全球半導體廠商提供標準化檢測工具。
產(chǎn)品參數(shù)
測量粒徑:
A 0.3um、2.5um、10um; B 0.3um、(0.5/1.0/2.5/5.0)um、10um;
C0.3um、0.5um、1.0um、2.5um、5.0m、10um; D 0.5um、1.0um、1.5um、2.0um、2.5um、3.0um;
E0,5um、1.0um、3.0um、5.0um、10.0um、25.0um; F 0.1μm,0.2μm,0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm;
1、粒徑分布誤差:≤±30%
2、濃度示值誤差:≤±30%
3、重復相對偏差:≤±10%FS
4、重疊誤差:≤5%
5、氣體檢測:可測氣體濃度(可選配)
6、溫度范圍:-40 ~ 120℃
7、檢定標準:ISO14644-1或 JJF1190
8、氣泵流速:2.83L/min,28.3L/min(可選);
9、采樣時間:3、6、9、12、15、30、60秒(可選);
10、檢測模式:數(shù)量模式;質量模式; 凈效模式;
11、檢測方式:定時檢測、循環(huán)檢測可設置
12、報警方式:自定義數(shù)量報警值、質量報警值
13、限值報警:RS485信號報警或外接聲光報警器
14、法 規(guī) 性:權限管控、審計追蹤、電子記錄等
15、合 規(guī) 性:符合ISO 21501-4,JIS B9921
16、通訊接口:RS232、R485、LAN-USB
17、存儲模式:實時、定時存儲可設置;無限制
18、打印模式:可選配微型打印機打印數(shù)據(jù)
19、工作條件:5 ~ 45℃、≤90%RH,無冷凝
20、多掙探針可供選擇
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