檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
形貌觀(guān)察、結(jié)構(gòu)分析
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對(duì)應(yīng)法規(guī):REACH法規(guī)
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- 檢測(cè)行業(yè)中觀(guān)察樣品形貌一般用光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡(SEM),其中光學(xué)顯微鏡的優(yōu)勢(shì)在于操作簡(jiǎn)單、能直觀(guān)看到待測(cè)位置的形貌、顏色等。在宏觀(guān)形貌觀(guān)察領(lǐng)域,光學(xué)顯微鏡(SEM)有著不可替代的優(yōu)勢(shì),但在微觀(guān)形貌觀(guān)察時(shí),光學(xué)顯微鏡則由于景深小而造成很多局限。比如樣品觀(guān)察面需要非常平整,否則觀(guān)察不到或者拍攝出的圖片質(zhì)量差,此時(shí)樣品需要制樣磨平,但這樣就破壞了樣品原本的表面形貌。這種時(shí)候就需要電子顯微鏡(SEM)來(lái)彌補(bǔ)這一缺陷。
和傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡相比,掃描電鏡(SEM)具有以下特點(diǎn):
1、能夠直接觀(guān)察樣品表面的結(jié)構(gòu),樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
2、樣品制備過(guò)程簡(jiǎn)單,不用切成薄片。
3、樣品可以在樣品室中作三維空間的平移和旋轉(zhuǎn),因此,可以從各種角度對(duì)樣品進(jìn)行觀(guān)察。
4、景深大,圖象富有立體感。掃描電鏡(SEM)的景深較光學(xué)顯微鏡大幾百倍。
5、圖象的放大范圍廣,分辨率也比較高??煞糯笫畮妆兜綆资f(wàn)倍,圖像分辨率可達(dá)3nm。
6、電子束對(duì)樣品的損傷與污染程度較小。
7、在觀(guān)察形貌的同時(shí),還可利用從樣品發(fā)出的其他信號(hào)作微區(qū)成分分析。
掃描電子顯微鏡(SEM)是觀(guān)察微觀(guān)形貌的最有力工具,目前已廣泛應(yīng)用于材料、生物、環(huán)境等領(lǐng)域。
深圳市材料表面分析檢測(cè)中心
溫靈丹
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