檢測認證人脈交流通訊錄
設備校準,檢定服務
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對應法規(guī)：設備校準,檢定服務
CNAS認可項目：是
DESCRIPTION TESTTYPE PRICE_UNIT PRECISION GRADE RANGE CERTIFICATION 光學分度臺 V 臺 分度值≤0.5 分度值> 0.5 / 0°? 360° JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范 光學分度頭 V 臺 分度值≤0.1分度值>0.1? 5分度值>5 / 0°? 360° JJG57-1999光學、數(shù)顯分度頭檢定規(guī)程 光學計 C 臺 1μm / (0?250)mm JJG45-1999光學計檢定規(guī)程 光學計 V 臺 1μm / (0?250)mm JJG45-1999光學計檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 C 臺 DJ07、DJ1 T3 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學經(jīng)緯儀 C 臺 DJ2 DJ2、TDJ2、T2、 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學經(jīng)緯儀 C 臺 DJ6、DJ30 TDJ6、DJ6、TE6、T6 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學經(jīng)緯儀 V 臺 DJ07、DJ1 T3 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學經(jīng)緯儀 V 臺 DJ2 DJ2、TDJ2、T2 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學經(jīng)緯儀 V 臺 DJ6、DJ30 TDJ6、DJ6、TE6、T6 (0~360)° JJG414-2011光學經(jīng)緯儀檢定規(guī)程 光學經(jīng)緯儀 GB/T 3161-2003 光學傾斜儀 C 臺 分度值≤0.2 / 0°? 360° JJF1083-2002光學傾斜儀校準規(guī)范 焊接檢驗尺 V 支 ±0.20mm / (0?45)mm 合像水平儀 C 臺 ±0.02mm/m / 0.01mm/m 合像水平儀 V 臺 ±0.02mm/m / 0.01mm/m 螺紋環(huán)規(guī) V 只 二等 / Φ(3?50)mm 螺紋環(huán)規(guī) V 只 / / ≤Φ50mm 螺紋環(huán)規(guī) V 只 / / >Φ(50?150)mm 機械分度頭 C 臺 / / 0°? 360° GB/T 2554-2008 機械分度頭 機械式比較儀 V 臺 ±(0.8?2)μm / ±50μm 激光平面干涉儀 C 臺 0.02μm / (0?150)mm GJB/J 6221-2008 數(shù)字式激光平面干涉儀校準規(guī)范 建筑工程質(zhì)量檢測器組 C 套 / / / 角度規(guī) C 支 ±(2′?5′) / 0°?320° 角度規(guī) V 支 ±(2′?5′) / 0°?360° 角度塊 C 角 0級，1級，2級 單塊 0°? 360° JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程 角度塊 Q 角 0級,1級 / 0°? 360° JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程 角度塊 Q 角 2級 / 0°? 360° JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程 角度塊 V 角 0級，1級，2級 單塊 0°? 360° JJG70-2004角度塊檢定規(guī)程 數(shù)顯分度臺 V 臺 分度值≤0.5 / 0°? 360° JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范 數(shù)顯分度臺 V 臺 分度值> 0.5 / 0°? 360° JJF1114-2004 光學、數(shù)顯分度臺校準規(guī)范 數(shù)顯分度頭 V 臺 分度值≤0.1 分度值>5 / 0°? 360° JJG57-1999光學、數(shù)顯分度頭檢定規(guī)程 數(shù)顯千分表 C 只 / / (0?10)mm 數(shù)顯式指示表檢定儀 V 臺 ±2μm / (0?25)mm 水平尺 C 支 (2?100)μm / (0?400)mm 水平尺 C 支 (2?100)μm / (400?1000)mm 研磨面平尺 C 支 0.4μm / ≤300mm JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程 研磨面平尺 C 支 0.6μm / >(300?500)mm JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程 研磨面平尺 Q 支 ≤ 0.4μm / ≤ 300mm JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程 研磨面平尺 V 支 0.4μm / ≤300mm JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程 研磨面平尺 V 支 0.6μm / >(300?500)mm JJG740-2005研磨面平尺檢定規(guī)程 英制量塊 C 塊 / / (0.5?100)mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 游標卡尺 C 支 / / ≤150mm 數(shù)顯游標卡尺 C 支 / / ≤150mm 游標卡尺 C 支 / / >(150?300)mm 數(shù)顯游標卡尺 C 支 / / >(150?300)mm 游標卡尺 C 支 / / >(300?500)mm 數(shù)顯游標卡尺 C 支 / / >(300?500)mm 游標卡尺 C 支 / / >(500?1000)mm 數(shù)顯游標卡尺 C 支 / / >(500?1000)mm 游標卡尺 V 支 / / ≤150mm 數(shù)顯游標卡尺 V 支 / / ≤150mm 游標卡尺 V 支 / / >(150?300)mm 數(shù)顯游標卡尺 V 支 / / >(150?300)mm 游標卡尺 V 支 / / >(300?500)mm 數(shù)顯游標卡尺 V 支 / / >(300?500)mm 游標卡尺 V 支 / / >(500?1000)mm 數(shù)顯游標卡尺 V 支 / / >(500?1000)mm 游標卡尺 V 支 / / >(1000?2000)mm 數(shù)顯游標卡尺 V 支 / / >(1000?2000)mm 游標塞尺 C 件 / / / 圓度測量儀 C 臺 ±2% / (0?1000)mm JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程 圓柱度測量儀 C 臺 ±2% / (0?1000)mm JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程 圓度測量儀 C 臺 ±5% / (0?1000)mm JJG429-2000圓度圓柱度測量儀檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 38塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 38塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 38塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 38塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 42塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 42塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 42塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 42塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 46塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 46塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 46塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 46塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 47塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 47塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 47塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 47塊組 （1?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 32塊組 （1?60）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 32塊組 （1?60）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 32塊組 （1?60）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 32塊組 （1?60）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 10塊組 （1?1.009）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 10塊組 （1?1.009）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 10塊組 （1?1.009）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 10塊組 （1?1.009）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 10塊組 （0.991?1）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 10塊組 （0.991?1）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 10塊組 （0.991?1）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 10塊組 （0.991?1）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 二等 10塊組 （2.5?25）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 10塊組 （2.5?25）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 10塊組 （2.5?25）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 10塊組 （2.5?25）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 112塊組 （0.5?100）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 8塊組 （125?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 8塊組 （125?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 8塊組 （125?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 10塊組 （50?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 10塊組 （50?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 10塊組 （50?500）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 5塊組 （600?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 5塊組 （600?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 5塊組 （600?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 10塊組 （100?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 10塊組 （100?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 10塊組 （100?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 11塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 11塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 11塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 12塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 12塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 12塊組 （50?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 三等 12塊組 （30?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 12塊組 （30?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 12塊組 （30?1000）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 四等 12塊組 （10?291.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 12塊組 （10?291.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 6塊組 （10?121.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 7塊組 （10?121.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 7塊組 （10?121.9）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 標準金屬線紋尺 V 支 二等 / (0?1000)mm JJG73-2005高等別線紋尺檢定規(guī)程 標準金屬線紋尺 V 支 三等 / (0?1000)mm 平面平晶 C 塊 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 V 塊 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 標準篩網(wǎng) T 只 / / 參照GB/T726-1997 未定 表面粗糙度比較樣塊 C 塊 29% / Ra:(0.01?80)μm JJF1099-2003表面粗糙度比較樣塊校準規(guī)范 表式測厚儀 C 只 / / (0?10)mm JJG34-2008指示表（指示表和千分表）檢定規(guī)程JJG379-2009大量程百分表檢定規(guī)程 測長機 C 臺 ±(0.5+L/100)μm / (0?1000)mm JJF1066-2000 測長機校準規(guī)范 測長機 C 臺 ±(0.5+L/100)μm / (0?3000)mm JJF1066-2000 測長機校準規(guī)范 測長儀 C 臺 ±(1+L/200)μm / (0?200)mm JJF1189-2008 測長儀校準規(guī)范 大量程百分表 V 只 0級,1級 / (10?20)mm 大量程百分表 V 只 0級,1級 / (20?40)mm 大量程百分表 V 只 0級,1級 / >40mm 大型工具顯微鏡 C 臺 ±(1+L/100)μm / (0?100)mm JJG56-2000工具顯微鏡檢定規(guī)程 大型工具顯微鏡 V 臺 ±(1+L/100)μm / (0?100)mm JJG56-2000工具顯微鏡檢定規(guī)程 帶表卡尺 C 支 ±(0.04?0.10)mm / (0?300)mm 帶表卡尺 V 支 ±(0.04?0.10)mm / (0?300)mm 帶表千分尺 C 支 ±3μm / (0?100)mm 帶表千分尺 V 支 ±3μm / (0?100)mm 帶錘鋼卷尺 Q 支/5m I級 / 0 ? 200m 帶錘鋼卷尺 Q 支/5m II級 / 0 ? 200m 刀口型直角尺 C 支 / / <300mm 刀口型直角尺 C 支 / / >300mm 刀口形直尺 C 支 ±(0.5?3.0)μm / ≤175mm 二等標準鉑電阻溫度計 V 支 二等 / (-189.3442?0.01)℃ 二等標準電離真空計 C 臺 ±10% / (10-1?10-4)Pa 二等標準電離真空計 V 臺 ±10% / (10-1?10-4)Pa 二等標準活塞式壓力計 C 臺 ±0.05% / (0.04?0.6)MPa 二等標準活塞式壓力計 C 臺 ±0.05% / (0.1?6)MPa 二等標準活塞式壓力計 C 臺 ±0.05% / (1?60)MPa 二等標準活塞式壓力計 C 臺 ±0.05% / (5?250)MPa 二等標準活塞式壓力計 V 臺 ±0.05% / (0.04?0.6)MPa 二等標準活塞式壓力計 V 臺 ±0.05% / (0.1?6)MPa 二等標準活塞式壓力計 V 臺 ±0.05% / (1?60)MPa 二等標準活塞式壓力計 V 臺 ±0.05% / (5?250)MPa 二等標準水銀溫度計 C 支 二等 / (-60?0)℃ 二等標準水銀溫度計 C 套 二等 1套7支 (-30?300)℃ 二等標準水銀溫度計 C 支 二等 / (-30?20)℃ 二等標準水銀溫度計 C 支 二等 / (0?50)℃ 二等標準水銀溫度計 C 支 二等 / (50?300)℃ 二等標準水銀溫度計 V 支 二等 / (-30?20)℃ 二等標準水銀溫度計 V 支 二等 / (0?50)℃ 二等標準水銀溫度計 V 支 二等 / (50?300)℃ 二等標準水銀溫度計 V 套 二等 1套7支 (-30?300)℃ 二等單活塞式壓力真空計 C 臺 ±0.05% / (-0.1?0.25)MPa 二等單活塞式壓力真空計 V 臺 ±0.05% / (-0.1?0.25)MPa 二等雙活塞式壓力真空計 C 臺 ±0.05% / (-0.1?0.25)MPa 二等雙活塞式壓力真空計 V 臺 ±0.05% / (-0.1?0.25)MPa 二等體溫計 C 支 0.02℃ / (35?45)℃ 二等體溫計 V 支 0.02℃ / (35?45)℃ 二級標準濕度發(fā)生器 Q 臺 ±2%RH / (10 ? 95)%RH 分流式濕度發(fā)生器 V 臺 ±2%RH二級 / (10?95)%RH 浮球壓力計(空氣天平) C 臺 0.025級以下 / 2MPa以下 浮球壓力計(空氣天平) C 臺 0.025級以下 / 2MPa及以上 浮球壓力計(空氣天平) C 臺 0.01級及以下 / 2MPa以下 浮球壓力計(空氣天平) C 臺 0.01級及以下 / 2MPa及以上 輻射感溫器 C 臺 / / 400?2000℃ 復合真空計(電離+熱傳導) C 臺 ±50% / (10-5?102)Pa 干濕球測濕計 C 臺 ±5%RH,±(1?3)℃ / (10?95)%RH，(0?150)℃ 干燥機,管道,空間及設備露點參數(shù)測試 C 臺 ±(2?5)%RH,±(0.2?1)℃ / (10?95)%RH，(5?50)℃ 高低溫交變濕熱箱 T 臺 / / (-75?200)℃，(10?100)%RH 高低溫試驗箱 T 臺 / / (-75?200)℃ 高低溫室 T 臺 ±0.3℃ / (-75?200)℃ 高精度實驗室溫度計 Q 點 0.1,0.2分度 / (-60 ? 600)℃ 高精密玻璃水銀溫度計 C 支 (0.005?0.15)℃ / (0?150)℃ 高精密玻璃水銀溫度計 V 支 (0.005?0.15)℃ / (0?150)℃ 高精密溫度計 C 支 ±0.10℃及以下 / (0?150)℃ 高精密溫度計 V 支 ±0.10℃及以下 / (0?150)℃ 高溫試驗箱 T 臺 / / 室溫?200℃ 高溫室 T 臺 ±0.3℃ / 室溫?200℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 C 支 A級（四線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 C 支 A級（三線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 C 支 B級（四線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 C 支 B級（三線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 V 支 A級（三線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 V 支 A級（四線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 V 支 B級（三線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)鉑,銅熱電阻 V 支 B級（四線制） / (-200?420)℃ 工業(yè)退火爐 T 臺 / / (300?1500)℃ 工作鉑銠10-鉑熱電偶 Q 支 Ⅰ級 / 0 ? 1600℃ 工作鉑銠10-鉑熱電偶 Q 支 Ⅱ級 / 0 ? 1600℃ 工作用玻璃液體溫度計 C 支 最小分度值0.1℃ / (-60?300)℃ 工作用玻璃液體溫度計 C 支 ±0.2℃ / (-80?300)℃ 工作用玻璃液體溫度計 V 支 最小分度值0.1℃ / (-60?300)℃ 工作用玻璃液體溫度計 V 支 ±0.2℃ / (-80?300)℃ 工作用玻璃液體溫度計 V 支 最小分度值1℃以下 / (-60?300)℃ 工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶 C 支 Ⅱ級 / (1100?1500)℃ 工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶 C 支 Ⅲ級 / (1100?1500)℃ 工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶 V 支 Ⅱ級 / (1100?1500)℃ 工作用鉑銠30-鉑銠6熱電偶 V 支 Ⅲ級 / (1100?1500)℃ 工作用輻射溫度計(紅外測溫儀) C 臺 0.5級及以下 / (50?550)℃ 工作用輻射溫度計(紅外測溫儀) C 臺 0.5級及以下 / (550?1500)℃ 工作用輻射溫度計(紅外測溫儀) C 臺 0.5級及以下 / (800?2000)℃ 工作用輻射溫度計(紅外測溫儀) V 臺 0.5級及以下 / (50?550)℃ 工作用輻射溫度計(紅外測溫儀) V 臺 0.5級及以下 / (550?1500)℃ 工作用廉金屬熱電偶 C 支 I級,II級 / (-80?300)℃ 工作用廉金屬熱電偶 C 支 I級 / (300?1100)℃ 工作用液體壓力計 C 臺 1級及以下 / (-0.1?0.25)MPa 工作用液體壓力計 C 臺 1級及以下 / (-10?250)kPa 工作用液體壓力計 V 臺 1級及以下 / (-0.1?0.25)MPa 工作用液體壓力計 V 臺 1級及以下 / (-10?250)kPa 管式電阻爐 T 臺 / / (300?1500)℃ 貴金屬熱電偶校驗爐 T 臺 / / (300?1500)℃ 量塊 V 套 五等 8塊組 （10?121.9）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 7塊組 （10?149.9）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 8塊組 （10?149.9）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 6塊組 （10?191.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 8塊組 （10?199.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 6塊組 （41.2?291.4）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 6塊組 （41.2?291.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量塊 V 套 五等 6塊組 （51.2?291.8）mm JJG146-2011量塊檢定規(guī)程 量油尺 C 支 2級 / (0?5)m 量油尺 V 支 2級 / (0?5)m 螺紋環(huán)規(guī) C 只 / / ≤M50mm 螺紋環(huán)規(guī) C 只 / / >M(50?150)mm 螺紋環(huán)規(guī) V 只 / / ≤M50mm 螺紋塞規(guī) C 支 / / ≤M50mm 螺紋塞規(guī) C 頭 / / >M(50?150)mm 螺紋塞規(guī) V 頭 / / ≤M50mm 螺紋塞規(guī) V 頭 / / >M(50?150)mm 莫氏錐棒(光學檢具) T 根 / / / 未定 內(nèi)測千分尺 C 支 ±0.008mm / (5?100)mm 內(nèi)測千分尺 V 支 ±0.008mm / (5?100)mm 內(nèi)徑百分表 C 只 / / (0?450)mm 內(nèi)徑千分表 C 只 / / (0?100)mm 內(nèi)徑千分表 C 只 / / (100?200)mm 內(nèi)徑千分表 C 只 / / (200?300)mm 內(nèi)徑千分表 C 只 / / (300?400)mm 內(nèi)徑千分尺 C 支 / / (0?250)mm 內(nèi)徑千分尺 C 支 / / (250?600)mm 內(nèi)徑千分尺 C 支 / / (600?1200)mm 內(nèi)徑千分尺 C 支 / / (1200?3000)mm 內(nèi)徑千分尺 V 支 / / (0?250)mm 內(nèi)徑千分尺 V 支 / / (250?600)mm 內(nèi)徑千分尺 V 支 / / (600?1200)mm 內(nèi)徑千分尺 V 支 / / (1200?3000)mm 檢測尺 C 件 / / / 內(nèi)外直角檢測尺 C 件 ±0.2mm / / 扭簧式比較儀 V 臺 ±(0.15?3)μm / ±100μm 偏擺儀 C 臺 / / (300?500)mm JJF 1109-2003 跳動檢查儀校準規(guī)范 平板 C 塊 (2.5?272)μm / ≤300mm 平板 C 塊 (2.5?272)μm / (300?500)mm 平板 C 塊 (2.5?272)μm / (500?800)mm 平板 C 塊 (2.5?272)μm / (800?1000)mm 平板 C 塊 (2.5?272)μm / (1000?1500)mm 平板 C 塊 (2.5?272)μm / (1500?2000)mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / ≤300mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / (300?500)mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / (500?800)mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / (800?1000)mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / (1000?1500)mm 平板 V 塊 (2.5?272)μm / (1500?2000)mm 平尺 C 支 (2?100)μm / (0?1000)mm 平尺 C 支 (2?100)μm / (1000?3000)mm 平尺 V 支 (2?100)μm / (0?1000)mm 平尺 V 支 (2?100)μm / (1000?3000)mm 平面等厚干涉儀 C 臺 / / Φ150mm JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準規(guī)范 平面等厚干涉儀 Q 臺 0.02μm / 0 ? 200mm JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準規(guī)范 平面平晶 C 塊 一級,二級 / D≤60mm，D>100mm?150mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 Q 塊 二等 / D:150mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 Q 塊 一級,二級 / 100mm＜D≤150mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 Q 塊 一級,二級 / 60mm＜D≤100mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 Q 塊 一級,二級 / ≤60mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平面平晶 V 塊 一級,二級 / D≤60mm，D>60mm?100mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 平行平晶 C 套 平面度:0.1μm 平行平晶 V 塊 平面度:0.1μm 平行平晶 V 套 平面度:0.1μm 坡度尺 C 件 / / / 漆膜厚度儀 C 臺 / / / 未定 千分表 C 只 0級,1級 / (0?2)mm 數(shù)顯千分表 C 只 0級,1級 / (0?2)mm 千分表 C 只 0級,1級 / (0?3)mm 數(shù)顯千分表 C 只 0級,1級 / (0?3)mm 千分表 C 只 0級,1級 / (0?5)mm 數(shù)顯千分表 C 只 0級,1級 / (0?5)mm 千分表 V 只 0級,1級 / (0?2)mm 數(shù)顯千分表 V 只 0級,1級 / (0?2)mm 千分表 V 只 0級,1級 / (0?3)mm 數(shù)顯千分表 V 只 0級,1級 / (0?3)mm 千分表 V 只 0級,1級 / (0?5)mm 數(shù)顯千分表 V 只 0級,1級 / (0?5)mm 千分表檢定儀 C 臺 ±2μm / (0?2)mm 千分表檢定儀 C 臺 ±2μm / (0?5)mm 千分表檢定儀 Q 臺 ±2μm / 0 ? 2mm 千分表檢定儀 Q 臺 / / 0 ? 5mm 千分表檢定儀 V 臺 ±2μm / (0?2)mm 千分表檢定儀 V 臺 ±2μm / (0?5)mm 千分尺 C 支 / / (100?200)mm 千分尺 C 支 / / (200?300)mm 千分尺 C 支 / / (300?500)mm 千分尺 C 支 / / (500?1000)mm 千分尺 C 支 / / (1000?1500)mm 千分尺 C 支 / / (1500?2000)mm 千分尺 C 支 / / (2000?3000)mm 千分尺 V 支 / / (100?200)mm 千分尺 V 支 / / (200?300)mm 千分尺 V 支 / / (300?500)mm 千分尺 V 支 / / (500?1000)mm 千分尺 V 支 / / (1000?1500)mm 千分尺 V 支 / / (1500?2000)mm 千分尺 V 支 / / (2000?3000)mm 千分尺(含壁厚) C 支 / / ≤100mm 千分尺(含壁厚) V 支 / / ≤100mm 塞尺 C 套 ±(3?16)μm / (0.02?1.0)mm 塞尺 V 套 ±(3?16)μm / (0.02?1.0)mm 三針 C 副 (-1.0?+0.5)μm / (Φ0.118?Φ10)mm 三針 V 副 (-1.0?+0.5)μm / (Φ0.118?Φ10)mm 三爪千分尺 C 支 / / (6?50)mm 三爪千分尺 C 支 / / (50?100)mm 三坐標測量機(手動) C 臺 / / ≤500mm JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 三坐標測量機(手動) C 臺 / / >500mm JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 三坐標測量機(自動) C 臺 / / ≤500mm JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 三坐標測量機(自動) C 臺 / / 500mm?1000mm JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 三坐標測量機(自動) C 臺 / / 1000mm?2000mm JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 掃平儀 C 臺 / / / JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 深度百分表 C 只 ±12μm / (0?100)mm 深度百分表 V 只 ±12μm / (0?100)mm 深度千分尺 C 支 ±0.005mm / (0?150)mm 深度千分尺 V 支 ±0.005mm / (0?150)mm 深度游標卡尺 C 支 ±(0.04?0.10)mm / (0?300)mm 深度游標卡尺 C 支 ±(0.05?0.10)mm / (0?500)mm 深度游標卡尺 V 支 ±(0.04?0.10)mm / (0?300)mm 深度游標卡尺 V 支 ±(0.05?0.10)mm / (0?500)mm 生物顯微鏡 T 臺 / / (0?100)mm JJG (教委) 012-1996 金相顯微鏡檢定規(guī)程 十字芯棒(光學檢具) T 根 / / 十字刻線的以軸線0°180°間橫向偏差 未定 試模 T 孔 / / 測長,寬,高 手持式激光測距儀 C 臺 / / (0?100)m JJG966-2010手持式激光測距儀 數(shù)顯測高儀 C 臺 ±(3+L/300)μm / (0?500)mm JJF1254-2010數(shù)顯測高儀校準規(guī)范 數(shù)顯測高儀 C 臺 ±(3+L/300)μm / (0?1000)mm JJF1254-2010數(shù)顯測高儀校準規(guī)范 數(shù)顯電感式比較儀 C 臺 ±(0.03+0.005A)μm / ±1999μm 測角儀 Q 臺 1″? 2″ / 0°? 360° JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程 測角儀 Q 臺 > 2″? 5″ / 0°? 360° JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程 測角儀 V 臺 1級,2級 / 0°? 360° JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程 測角儀 V 臺 5級~10級 / 0°? 360° JJG97-2001測角儀檢定規(guī)程 測量顯微鏡 C 臺 ±(5+L/15)μm / (0?50)mm JJG571-2004讀數(shù)、測量顯微鏡檢定規(guī)程 測量顯微鏡 V 臺 ±(5+L/15)μm / (0?50)mm JJG571-2004讀數(shù)、測量顯微鏡檢定規(guī)程 測微平行光管 C 臺 / / / JJF1064-2010坐標測量機校準規(guī)范 長平晶 C 塊 0.01μm, 0.03μm / 210mm,310mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 長平晶 V 塊 0.01μm, 0.03μm / 210mm,310mm JJG28-2000平晶檢定規(guī)程 超聲波測厚儀 C 臺 ±(0.1+H/100)mm / (0?200)mm JJF1126-2004超聲波測厚儀校準規(guī)范 齒厚游標卡尺 V 支 ±0.02mm / m1?m50 觸針式表面粗糙度儀 C 臺 ±5% / / JJF1105-2003觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范 觸針式表面粗糙度儀 C 臺 ±7% / Ra:(0.01?80)μm JJF1105-2004觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范 觸針式表面粗糙度儀 C 臺 ±10% / Ra:(0.01?80)μm JJF1105-2005觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范 觸針式表面粗糙度儀 C 臺 ±15% / Ra:(0.01?80)μm JJF1105-2006觸針式表面粗糙度測量儀校準規(guī)范 垂直度檢測尺 C 件 ±0.15mm / / 磁阻法測厚儀 C 臺 ±(0.5?0.01H)μm 關(guān)于檢測通 | 服務項目 | 合作中心 | 資訊投稿 | 媒體聚焦 | 聯(lián)系我們 | 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