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安博檢測(深圳)實(shí)驗(yàn)室: 中國CNAS國家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(證書號L3503)
LM80是指對光源的測量,“光源”僅指封裝、陣列和模塊。其要點(diǎn)如下:
a、老化過程與測試過程分開,老化過程要嚴(yán)格控制Tc點(diǎn)的溫度為55度、85度或供應(yīng)商指定的溫度。老化到規(guī)定的測試間隔后恢復(fù)到測試環(huán)境進(jìn)行光度測試。
b、要求對光通量和色參數(shù)進(jìn)行測試,具體的測試方法并沒有嚴(yán)格規(guī)定。下面是標(biāo)準(zhǔn)中的原話:Photometric measurements shall be in conformance with the appropriate laboratory method for the LED light source under test
c、對環(huán)境控制、Tc的溫度控制、供電設(shè)備有較高的要求。
d、對樣品和老化過程的追蹤和記錄有詳細(xì)的要求。
能源之星標(biāo)志是由美國環(huán)保署和能源部共同創(chuàng)建,旨在保證所列管產(chǎn)品的能效符合法規(guī)要求。針對現(xiàn)今市場的觀察與對未來的展望,EPA 和 DOE 正積極推動 ENERGY STAR® 計(jì)畫的強(qiáng)化措施,包括自2011年1月1日起,要求所有由制造商提出參與ENERGY STAR®計(jì)畫的全新產(chǎn)品,必須通過EPA認(rèn)可的認(rèn)證機(jī)構(gòu)(EPA-recognized CB)審核,并根據(jù)特定條件完成認(rèn)可測試(Qualification Testing),才能使用能源之星標(biāo)志。除了能效規(guī)范的符合性,針對 LED 燈具,其必須同時(shí)滿足相對應(yīng)的安全要求才可進(jìn)入美國市場。
LM80是IESNA(北美照明工程學(xué)會)批準(zhǔn)光通維持率(LED壽命)標(biāo)準(zhǔn)。 LM-80-15 LED光源流明維持率測試方法 測試所需要的時(shí)間為6000小時(shí)。 LM-80測試報(bào)告LED光源美國能效標(biāo)準(zhǔn) 當(dāng)LED燈在進(jìn)行能源之星認(rèn)證的時(shí)候,如果LED器件擁有被認(rèn)可的LM-80測試報(bào)告,成品燈可以大大縮短認(rèn)證和擁有能源之星標(biāo)志的周期。比如LED燈具,完全不需要進(jìn)行壽命和光衰測試,只需要兩周時(shí)間就可以獲得能源星認(rèn)證和標(biāo)志;而LED一體式燈具也只需3000小時(shí)就可以提前擁有能源之星標(biāo)志。這樣,器件的LM-80報(bào)告可以讓LED成品燈具廠家提前擁有了市場準(zhǔn)入 證,大大縮短上市周期,擁有LM-80報(bào)告的LED器件廠家也在風(fēng)氣云涌的LED市場競爭中占盡市場先機(jī)。 LED器件的LM-80測試對Case(殼體)溫度Ts和環(huán)境溫度Ta有嚴(yán)格要求,其要求Ta>=Ts-5°C,其中,殼體溫度Ts指距離LED殼體1.5毫米的空氣中的溫度。目前國內(nèi)實(shí)驗(yàn)室和封裝廠家都是用精密恒溫來實(shí)現(xiàn)LED的恒溫老化,但是,由于LED本身發(fā)熱量大,導(dǎo)致恒溫箱只能精確控制環(huán)境溫度Ta,而不能精確控制殼體溫度Ts,更控制不了殼體溫度Ts和環(huán)境溫度Ta的溫度偏差在-5°C。當(dāng)環(huán)境溫度達(dá)到要求的某一溫度的時(shí)候,而實(shí)際上因?yàn)長ED本身發(fā)熱量大,加上通常要點(diǎn)25個(gè)LED燈珠以上,尤其是大功率的器件,發(fā)熱量非常大,LED的殼體溫度Ts會非常高,往往是殼體溫度Ts的實(shí)際溫度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于所預(yù)設(shè)的溫度。很多公司環(huán)境溫度控制到55度,而最后實(shí)際的燈珠測試過程中會燒焦,最終的測試結(jié)果偏離,測試壽命值會偏小,對測試結(jié)果不利,并且不能真實(shí)反映LED按照標(biāo)準(zhǔn)要求的流明維持率和壽命。而且,很多個(gè)LED一起測試,也無法有效控制每個(gè)LED樣品的殼體溫度Ts在負(fù)2度的偏差。 同時(shí),LM-80測試要求在三個(gè)溫度下進(jìn)行測試:55℃(要求控制在53-55℃)、85℃(要求控制在83-85℃)、T3rd(要求控制-2,+0偏差)。由于測試LED流明維持率的儀器通常只設(shè)有一個(gè)烤箱,因此,只能采用一個(gè)溫度用一個(gè)烤箱。即測試LED流明維持率的儀器一次只能在一個(gè)溫度下進(jìn)行測試,無法在多個(gè)溫度下同時(shí)進(jìn)行測試。通常每家封裝公司都有很多型號來申請LM-80測試,每一個(gè)又有3個(gè)溫度,需要巨大的場地和眾多的儀器,造價(jià)和費(fèi)用非常高,尤其給實(shí)驗(yàn)室?guī)砹司薮蟮碾y題,也會給行業(yè)應(yīng)用帶來了巨大的瓶頸,不利于行業(yè)發(fā)展。 所以能解決精確控制ts溫度,并精確控制每個(gè)節(jié)點(diǎn)的溫度,達(dá)到溫度比較均勻,并且可以一臺實(shí)現(xiàn)幾個(gè)溫度的控制的設(shè)備就成為每個(gè)廠家急切想解決的問題,Anbotek作為美國EPA和DOE的合作伙伴和全球最大的能源之星檢測和認(rèn)證機(jī)構(gòu), 安博檢測實(shí)驗(yàn)室根據(jù)多年的測試經(jīng)驗(yàn)和研發(fā)能力,成功研發(fā)出LED器件(LM-80)老化測試系統(tǒng),不僅可在同一測試LED流明維持率的儀器上同時(shí)在三個(gè)溫度下進(jìn)行測試,而且可精確控制LED的殼體溫度和箱體的環(huán)境溫度,實(shí)現(xiàn)精確控制Ts及Ta溫度,因?yàn)樵O(shè)計(jì)簡單,操作方面,大大降低了成本,是目前市場上面用半導(dǎo)體來實(shí)現(xiàn)的測試儀器價(jià)格的五分之一,產(chǎn)品一推出就得到很多封裝公司的青睞。 anbotek安博檢測已經(jīng)獲得美國NVLAP授權(quán)(國內(nèi)少數(shù)幾家之一)EPA實(shí)驗(yàn)室,快速高效以最低的價(jià)格為您辦理美國能效認(rèn)證,DLC認(rèn)證,Energy star,LM79,LM80,L70,IES File,ERP等 詳情請來電咨詢
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