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HALT(高加速壽命測(cè)試):Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的工序,它通過設(shè)置逐級(jí)遞增的加速環(huán)境應(yīng)力,來加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn),而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn),從而達(dá)到提升可靠性的目的,最大的特點(diǎn)是設(shè)置高于樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力,從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時(shí)間。