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掃描電子顯微鏡分析
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對(duì)應(yīng)法規(guī):能譜儀及 MLA
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- 國家有色金屬及電子材料分析測試中心電鏡室,配備三臺(tái)掃描電鏡,JSM-7001F 場發(fā)射型掃描電鏡,JSM-6510以及JSM-840 掃描電鏡。其中,JSM-7001F配備了EDS與EBSD 一體化分析系統(tǒng),不僅能夠開展高分辨的二次電子像觀察,還可以實(shí)現(xiàn)各種晶體材料的形貌、成分、結(jié)構(gòu)及取向分布的一體化分析。JSM-6510配備了能譜儀及 MLA 礦物分析軟件,能夠自動(dòng)快速測定礦物組成及含量。
國家有色金屬及電子材料分析測試中心,是中國權(quán)威的第三方金屬檢測機(jī)構(gòu),實(shí)驗(yàn)室通過ISO 17025國家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(CNAS),中國計(jì)量認(rèn)證(CMA),國際航空材料認(rèn)證(NADCAP),為客戶提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測、評(píng)價(jià)方案,滿足進(jìn)出口及工程檢測等各種需求。
關(guān)鍵詞:掃描電鏡分析,掃描電鏡檢測,掃描電鏡測試,掃描電子顯微鏡檢測,掃描電子顯微鏡測試
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國家有色金屬及電子材料分析測試中心
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