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國家有色金屬及電子材料分析測試中心

檢測認證人脈交流通訊錄
  • 化學成分分析

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  • 對應法規(guī):
    CNAS認可項目:是
  •   中心從事金屬材料、半導體材料、礦物、水質(zhì)等的成分分析和分析測試技術研究。所采用的方法包括化學法和儀器法,能夠檢測樣品中的常量、微量、痕量、超痕量成份。

      化學分析:重量法、容量法、分光光度法

      儀器分析:

     

    序號

    檢測手段

    服務項目

    1

    輝光放電質(zhì)譜(GDMS)

    金屬材料中ppb級及其以上含量的雜質(zhì)元素分析,可以檢測5N、6N高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷以及多晶硅材料中的痕量和超痕量雜質(zhì)元素。

    2

    電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)

    高純金屬、半導體材料、塑料、藥品、食品、生物制品中的痕量多元素測定。該儀器可與氫化物發(fā)生器聯(lián)機使用,使被測元素測定下限降低1~2個數(shù)量級;與稀土微柱分離裝置聯(lián)用,能夠在線去除稀土基體,使被測稀土雜質(zhì)的測定下限降低2~3個數(shù)量級。

    3

    電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-AES)

    金屬材料中微量、常量雜質(zhì)元素的分析,如銅合金、鋁合金、稀土金屬、稀有難熔金屬、電子材料等,充分利用該儀器可以提供全波長覆蓋的分析譜圖,具有多元素同時測定的功能。

    4

    直流電弧原子發(fā)射光譜(DC-AES)

    各類有色純金屬、合金或金屬化合物中雜質(zhì)元素的定量分析,各類有色金屬元素的定性分析。

    5

    火花源光電直讀光譜(Spark-OES)

    鋁合金、銅合金、鎂合金和鈦合金中的合金元素和微量元素,以及低碳、低硫、低磷和低氮元素分析

    6

    X射線熒光光譜(XRF)

    金、銀、鉑首飾的定量分析、金屬材料的定性、半定量分析

    7

    原子吸收光譜(AAS)

    金屬材料中堿金屬和堿土金屬元素分析

    8

    原子熒光光譜(AFS)

    適用于As、Sb、Hg、Se、Pb、Bi、Sn、Ge、Te、Cd、Zn等十一種元素痕量水平的日常監(jiān)測

    9

    離子色譜(IC)

    金屬材料中的陰離子的分析。同時,該儀器可以進行有色金屬材料中雜質(zhì)的分離富集,并與質(zhì)譜聯(lián)用,進一步提高ICP-MS的選擇性和靈敏度,并有效地降低其檢出限,該技術正逐步應用于國家標準分析方法。

    10

    氫測定儀

    金屬材料中氫含量的測定,可以檢測試樣中低至百萬分之一的氫。

    11

    氧氮測定儀

    金屬材料中的O、N的測定

    12

    碳硫測定儀

    金屬材料中的C、S的測定

    13

    自動電位滴定儀

    部分金屬材料中主成分的測定

    14

    微波消解工作站

    陶瓷材料、貴金屬、難溶金屬等的溶解

     


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