這真不是您需要的服務?
中心從事金屬材料、半導體材料、礦物、水質(zhì)等的成分分析和分析測試技術研究。所采用的方法包括化學法和儀器法,能夠檢測樣品中的常量、微量、痕量、超痕量成份。
化學分析:重量法、容量法、分光光度法
儀器分析:
序號 |
檢測手段 |
服務項目 |
1 |
輝光放電質(zhì)譜(GDMS) |
金屬材料中ppb級及其以上含量的雜質(zhì)元素分析,可以檢測5N、6N高純鋁、銅、鋅、鎳、鈷以及多晶硅材料中的痕量和超痕量雜質(zhì)元素。 |
2 |
電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS) |
高純金屬、半導體材料、塑料、藥品、食品、生物制品中的痕量多元素測定。該儀器可與氫化物發(fā)生器聯(lián)機使用,使被測元素測定下限降低1~2個數(shù)量級;與稀土微柱分離裝置聯(lián)用,能夠在線去除稀土基體,使被測稀土雜質(zhì)的測定下限降低2~3個數(shù)量級。 |
3 |
電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-AES) |
金屬材料中微量、常量雜質(zhì)元素的分析,如銅合金、鋁合金、稀土金屬、稀有難熔金屬、電子材料等,充分利用該儀器可以提供全波長覆蓋的分析譜圖,具有多元素同時測定的功能。 |
4 |
直流電弧原子發(fā)射光譜(DC-AES) |
各類有色純金屬、合金或金屬化合物中雜質(zhì)元素的定量分析,各類有色金屬元素的定性分析。 |
5 |
火花源光電直讀光譜(Spark-OES) |
鋁合金、銅合金、鎂合金和鈦合金中的合金元素和微量元素,以及低碳、低硫、低磷和低氮元素分析 |
6 |
X射線熒光光譜(XRF) |
金、銀、鉑首飾的定量分析、金屬材料的定性、半定量分析 |
7 |
原子吸收光譜(AAS) |
金屬材料中堿金屬和堿土金屬元素分析 |
8 |
原子熒光光譜(AFS) |
適用于As、Sb、Hg、Se、Pb、Bi、Sn、Ge、Te、Cd、Zn等十一種元素痕量水平的日常監(jiān)測 |
9 |
離子色譜(IC) |
金屬材料中的陰離子的分析。同時,該儀器可以進行有色金屬材料中雜質(zhì)的分離富集,并與質(zhì)譜聯(lián)用,進一步提高ICP-MS的選擇性和靈敏度,并有效地降低其檢出限,該技術正逐步應用于國家標準分析方法。 |
10 |
氫測定儀 |
金屬材料中氫含量的測定,可以檢測試樣中低至百萬分之一的氫。 |
11 |
氧氮測定儀 |
金屬材料中的O、N的測定 |
12 |
碳硫測定儀 |
金屬材料中的C、S的測定 |
13 |
自動電位滴定儀 |
部分金屬材料中主成分的測定 |
14 |
微波消解工作站 |
陶瓷材料、貴金屬、難溶金屬等的溶解 |