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  • 表面成分分析

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  • 對(duì)應(yīng)法規(guī)：GB,ASTM
    CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是
  • 做表面成分分析方法： AES：材料表面形貌觀察及表面不同深度的無(wú)機(jī)物成分分析,最小分析深度:表面3nm，剖面分析深度：2-20nm，檢出限：0.1-1at%。 X射線(xiàn)光電子（XPS/ESCA）：材料表面不同深度組成元素的定性、半定量及價(jià)態(tài)分析，最小分析深度:表面2nm，檢出限：0.01-1at%。 EDS：表面形貌觀察20000倍及表面無(wú)機(jī)物成分分析， EDS（C后面的元素）分析深度:表面0.3～5μm，成分檢出限：0.1%。 XRD：表征材料的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標(biāo)準(zhǔn)卡，無(wú)對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。檢出限：1at%。
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魏先生

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