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安博檢測(cè)上海分公司

檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄

  • 光伏組件PID測(cè)試報(bào)告檢測(cè)機(jī)構(gòu)可靠性IEC62804認(rèn)證

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  • 對(duì)應(yīng)法規(guī)：IEC62804
    CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是

  • 光伏組件PID測(cè)試報(bào)告檢測(cè)機(jī)構(gòu)可靠性IEC62804認(rèn)證

    DIN IEC/TS 62804-1-2017
    光伏(PV)模塊.檢測(cè)電位誘導(dǎo)衰減的試驗(yàn)方法.第1部分:晶體硅(IEC/TS 62804-1-2015)

    Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

     

    IEC62804標(biāo)準(zhǔn)的雙85抗PID測(cè)試（測(cè)試條件為±1000V電壓，85攝氏度、85%相對(duì)濕度，96小時(shí)）

    IEC62804標(biāo)準(zhǔn)的雙85抗PID測(cè)試（測(cè)試條件為±1500V電壓，85攝氏度、85%相對(duì)濕度，192小時(shí)）

    光伏組件卓越的抗PID性能確保了組件的高質(zhì)量和高可靠性，保證了光伏電站的穩(wěn)定運(yùn)行，特別是保障了電站在高溫潮濕等特殊氣候條件下25年生命周期內(nèi)的平穩(wěn)運(yùn)作。

    我司（安博檢測(cè)）測(cè)試項(xiàng)目：LID光致衰減，PID(抗電勢(shì)誘導(dǎo)衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

    安博檢測(cè)是國(guó)內(nèi)首家民營(yíng)光伏產(chǎn)品測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，價(jià)格合理周期快，歡迎隨時(shí)來(lái)電來(lái)信咨詢，咨詢電話13480686521（微信同號(hào)）, QQ2213430959    郵箱：ivy.liu@anbotek.com   聯(lián)系人：劉工


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